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Rasterelektronenmikroskope
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Vergrößerung: 1 unit - 2.000.000 unit
ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMS (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) verbinden Kompetenz in Imaging und Analytik. Dank der Innovationen in der Elektronenoptik ...
ZEISS Microscopy
... Das kleinste TEM der Welt.. Das LVEM5 ist ein kompaktes Tischgerät, das hochauflösende Bildgebung mit dem geringen Platzbedarf eines optischen Mikroskops kombiniert. Es besteht aus vier separaten Teilen: dem Mikroskop, der Elektronikeinheit, ...
Vergrößerung: 1.000.000 unit
... Das TESCAN VEGA Compact beweist, dass ein Einstiegsgerät nicht gleichbedeutend mit Kompromissen bei den Ergebnissen sein muss, und bietet eine komplette analytische REM-Lösung für Labore, die Wert auf eine einfache Bedienung und eine ...
TESCAN GmbH
... Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich. Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert ...
TESCAN GmbH
... Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich Die 4. Generation des TESCAN MIRA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit einer FEG Schottky Elektronenemissionsquelle ausgestattet. ...
TESCAN GmbH
Vergrößerung: 25 unit - 200.000 unit
Gewicht: 330 kg
Länge: 835 mm
... Das FusionScope ist ein korrelatives AFM/SEM-Mikroskop, das von Grund auf so konzipiert wurde, dass Sie die Vorteile der Kombination dieser beiden Analysemethoden nahtlos nutzen können. Für die meisten Analysen ist es oft wünschenswert, ...
Vergrößerung: 50 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
... Detektoren für höchste Auflösung weiterentwickelt. Darüber hinaus wurden die JEOL-EDX-Detektoren in die neue, von JEOL-Rasterelektronenmikroskopen bekannte Nutzeroberfläche integriert, um möglichst effiziente und einfache ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,1 nm
... Elektronenmikroskope, genannt SEM (Rasterelektronenmikroskop) und TEM (Transmissionselektronenmikroskop), haben die höchste Vergrößerung der Welt und verwenden kurze Wellen von Elektronenstrahlen anstelle von Licht, um ...
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...
Hitachi High-Technologies
... unserem Elektronenmikroskop sind Sie in der Lage, auf der Submikron- und Nanoskala zu betrachten. Unser persönliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) hilft Ihnen, über die Grenzen der Optik hinaus zu sehen. Mit der 20-fachen ...
Räumliche Auflösung: 1,8, 2,6, 2,5, 4,6, 1 µm
Durch die Bewegung der Probe mit dem hochpräzisen motorisierten XY-Tisch in einer Achse erfasst der NPS eine Reihe von fokussierten Punkten in einem gewählten Intervall und erstellt so ein schnelles Profil: die Messung von Höhe, Abstand, ...
Hirox Europe
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