Automatisches Probenvorbereitungsgerät POLISHER™

für elektronische ÜbertragungsmikroskopeKühlungOberflächen

Der JEOL Cross Section Polisher IB-19520CCP ist ein Präparationswerkzeug mit integrierter Kühlung zur Herstellung von artefaktfreien Querschnitten und zur Nachpolitur von Schliffen. Selbst empfindliche, strahlsensible Proben wie Lötmittel oder biologische Proben lassen sich artefaktfrei präparieren, indem sie während der Präparation mit flüssigem Stickstoff gekühlt werden. Neben der Probenkühlung verfügt das Modell über einen Transferbehälter für luftempfindliche Proben. Diese können nach der Präparation gasdicht verschlossen und in eine Glovebox oder direkt in ein Rasterelektronenmikroskop transferiert werden. Für die qualitativ hochwertige Beschichtung nicht-leitfähiger Proben steht ein Halter mit Kohlenstoff-Target zur Verfügung. Merkmale Artefaktfreie Querschnitte mit breiter Abtragsfläche (bis mehrere Millimeter) Nachpolitur mechanisch präparierter Schliffe von Hart-, Weich- und Verbundwerkstoffen Einfache Bedienung per Touchpanel Hohe Abtragsrate bis 500µm/h Kühlung temperatursensibler Proben mit flüssigem Stickstoff Präparation luftsensibler Proben incl. Transferbehälter für inerten bzw. Vakuum-Transport Beschichtung nicht-leitfähiger Proben Spezifikationen Ionen­beschleu­nigungs-spannung 2 - 8 kV Abtrags­rate 500 μm/h Max. Proben­größe 11mm (B) x 10mm (T) x 2mm (H) Auto-Funktionen Auto­mati­sierter Programm­start und -Stopp Intermittent-Mode Regelung der Probentemperatur durch gepulste Ionenexposition Finishing-Mode Auto­matische Fein­politur