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TEM-Mikroskop CRYO ARM™ 300
biologischLaborbodenstehend

TEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
TEM
Anwendung
Labor, biologisch
Konfigurierung
kleinformatig, bodenstehend

Beschreibung

Das JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300), ausgestattet mit einer Kaltfeld-Emissionskanone, einem Omega-Energiefilter in der Säule, einem seitlichen Flüssigstickstoff-Kühltisch und einem automatischen Probenwechselsystem, ist ein Kryo-Elektronenmikroskop (Kryo-EM), das die Beobachtung von Biomolekülen bei Kryo-Temperatur ermöglicht. Das automatische Probenwechselsystem ermöglicht die Speicherung von bis zu 12 Proben. Darüber hinaus ermöglicht das System den Austausch einer oder mehrerer beliebiger Proben und damit eine flexible Zeitplanung. Darüber hinaus wird durch den kombinierten Einsatz eines neu entwickelten Omega-Energiefilters in der Säule und einer lochfreien Phasenplatte der Kontrast von TEM-Bildern biologischer Proben drastisch erhöht. Merkmale Automatisiertes Probenwechselsystem Das System besteht aus einem Probentisch, der die Proben auf die Temperatur von Flüssigstickstoff abkühlt, und einem Kryo-Transfersystem, das die gekühlten Proben automatisch zum Kryotisch transportiert. Der Flüssigstickstoff wird bei Bedarf automatisch in den Flüssigstickstofftank geleitet. Dieses automatisierte System ermöglicht die Lagerung von bis zu 12 Proben und den Austausch einer oder mehrerer beliebiger Proben, während die übrigen Proben zwischen dem Probentisch und dem Probenaustauschsystem gekühlt bleiben. Kalte Feldemissionskanone (Cold FEG) Eine Kaltfeld-Emissionskanone (Cold FEG) erzeugt einen sehr hellen Elektronenstrahl mit einer sehr geringen Energiespanne und bietet eine hohe Kohärenz. Dadurch erreicht das CRYO ARM™ 300 eine hochauflösende, kontrastreiche Bildgebung. Omega-Energiefilter in der Säule Das CRYO ARM™ 300 ist mit einem Omega-Energiefilter in der Säule ausgestattet, mit dem energiegefilterte Bilder und Energieverlustspektren aufgenommen werden können. Die mit dem Mikroskop aufgenommenen verlustfreien Bilder bieten einen hohen Kontrast bei reduzierter chromatischer Aberration.

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 Nov. 2024 Shanghai (China)

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