XRF-Spektrometer Axios FAST
für Qualitätskontrolle

XRF-Spektrometer
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Eigenschaften

Typ
XRF
Anwendung
für Qualitätskontrolle

Beschreibung

Analyse der chemischen Zusammensetzung mehrerer Elemente in Sekunden Benötigen Sie eine zerstörungsfreie Analyse der chemischen Zusammensetzung in Sekundenschnelle aufgrund von zeitkritischen Prozesskontrollen oder hohen Probedurchsätzen? Mit bis zu 28 Elementen, die gleichzeitig in Konzentrationsbereichen von ppm bis 100 % gemessen werden, ist der das simultane WDRFA-Spektrometer Axios FAST von Malvern Panalytical die ideale Lösung. Präzise und robuste Analyse, einfache Bedienung durch weniger erfahrene Mitarbeiter und eine hohe Betriebszeit mit geringen Betriebskosten. Schnelle Ergebnisse bei zeitkritischen Anwendungen Da die Analyseergebnisse in wenigen Sekunden verfügbar sind, ist der Axios FAST Elementaranalysator das ideale Werkzeug für zeitkritische Anwendungen und Umgebungen mit hohem Probendurchsatz. Zu den Hauptanwendungsbereichen gehören Produktionsstätten von Stahl- und Metalllegierungen sowie geologische oder gewerbliche Labors, in denen Hunderte von Proben täglich analysiert werden müssen Hoher Probendurchsatz Das RFA-Simultanspektrometer Axios FAST ist aufgrund seiner schnellen Probenhandhabung und hervorragenden Betriebssicherheit die erste Wahl für schnelle analytische Kontrollen. Kontinuierliches Laden durch Revolvermechanismus VRC-Probenwechsler mit 168 Positionen, mit flexiblen Tablettladeoptionen für unbeaufsichtigte Batch-Analysen Direktes Laden Barcode-Lesegerät für Proben ermöglicht eine schnelle und fehlerfreie Dateneingabe beim Laden von Proben. Erhöhte Leistung Gleichzeitige Messung von bis zu 28 Elementen mit einer minimalen Messzeit von 2 Sekunden pro Probe

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ANALYTICA 2024
ANALYTICA 2024

9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A1.314 - Stand Vide

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