XRF-Spektrometer 2830 ZT
für Wasseranalyse

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Eigenschaften

Typ
XRF
Anwendung
für Wasseranalyse

Beschreibung

2830 ZT Fortschrittliche wellenlängendispersive RFA-Analyse Der wellenlängendispersive Wafer-Analyzer (WDRFA) 2830 ZT bietet die ultimativen Möglichkeiten zur Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten. Speziell für die Halbleiter- und Datenspeicherindustrie entwickelt, ermöglicht der Wafer-Analyzer 2830 ZT von PANalytical die Bestimmung der Zusammensetzung, der Dicke, des Dotierungsgrads und der Oberflächenbeschaffenheit von Schichten bei Wafern bis zu einem Durchmesser von 300 mm

Kataloge

2830 ZT
2830 ZT
12 Seiten

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