Das DektakXT®-Stiftprofilometer zeichnet sich durch ein revolutionäres Tischdesign aus, das eine unübertroffene Wiederholbarkeit von 4 Å und eine um bis zu 40 % höhere Scangeschwindigkeit ermöglicht. Dieser wichtige Meilenstein in der Leistung von Tastschnittgeräten ist der Höhepunkt von mehr als fünfzig Jahren Innovation und Branchenführerschaft von Dektak®. Durch die Kombination von Branchenneuheiten bietet DektakXT ein Höchstmaß an Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Wert, um eine bessere Prozessüberwachung von der Forschung und Entwicklung bis zur Qualitätskontrolle zu ermöglichen. Die in DektakXT integrierten technologischen Durchbrüche ermöglichen kritische Oberflächenmessungen im Nanometerbereich für die Mikroelektronik-, Halbleiter-, Solar-, LED-, Medizin- und Materialforschungsindustrie.
4 Angström
wiederholbarkeit
Bietet branchenführende Genauigkeit.
Einzelbogen
konstruktion
Bietet eine bahnbrechende Scan-Stabilität.
Selbstausrichtung
taststifte
Ermöglicht den mühelosen Austausch der Spitze.
FEATURES
Beschleunigung der Datenerfassung und -analyse
Durch die Verwendung eines einzigartigen Direktantriebs-Scantischs beschleunigt das DektakXT die Mess-Scanzeiten um 40 %, wobei die branchenführende Leistung erhalten bleibt. Vision64, die 64-Bit-Parallelverarbeitungs- und Analysesoftware von Bruker, ermöglicht ein schnelleres Laden von 3D-Dateien und eine schnellere Anwendung von Filtern und Multiscan-Datenbankanalysen.
Höchste Reproduzierbarkeit der Messungen
Durch die Implementierung einer Einzelbogenstruktur ist das DektakXT stabiler, was die Auswirkungen von Umgebungsgeräuschen minimiert. Die aufgerüstete "intelligente Elektronik" des DektakXT reduziert Temperaturschwankungen und verwendet moderne Prozessoren, die fehlerverursachendes Rauschen minimieren. Dadurch wird das System noch robuster und ist in der Lage, Schritthöhen von <10nm zu messen.
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