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Inspektionssystem Wafer
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Beschreibung
Das Wafer-Inspektionssystem erkennt Verunreinigungen oder Defekte und Fehler in den Schaltkreismustern auf einem Siliziumwafer mit Hilfe des SEM-Systems oder des Dunkelfeldsystems.
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Kataloge
Minituarized AC Servomotors
16 Seiten
Coreless DC Motors
36 Seiten
Galvanometer Optical Scanner
24 Seiten
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Semiconductor
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.