Optisches Mikroskop EHD-T180VA SWIR

digitalInfrarotInspektion

Die EHD CTR- und ITR-Kameras wurden entwickelt, um den hohen Anforderungen der modernen Fluoreszenz- und Lichtmikroskopie gerecht zu werden. Diese Kameras wurden für Forscher und Fachleute entwickelt, die mit schwachen oder wenig intensiven Signalen arbeiten. Sie bieten eine überragende Empfindlichkeit und liefern selbst unter den schwierigsten Bedingungen scharfe und klare Bilder. Um eine reibungslose Integration zu gewährleisten, bieten wir eine Reihe von geeigneten Videokopplern an, die mit Mikroskopen führender Hersteller wie Olympus, Leica und Zeiss kompatibel sind. Dank dieser Flexibilität können Sie Ihr Mikroskop mit minimalem Aufwand aufrüsten und die Kompatibilität mit einer Vielzahl von Setups sicherstellen. Die Entwicklung der CMOS-Sensortechnologie, die durch die Nachfrage nach kompakten, leistungsstarken Bildgebungssystemen unter strengen Größen- und Leistungsbeschränkungen vorangetrieben wurde, hat bedeutende Fortschritte in der digitalen Mikroskopie ermöglicht. Modulare Mikroskope im kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR), wie z. B. das EHD SWIR-Mikroskop, bieten jetzt transformative Möglichkeiten für industrielle und wissenschaftliche Anwendungen, indem sie die Bildgebung über das traditionelle sichtbare Spektrum (400-700 nm) hinaus in den Bereich von 900-1700 nm erweitern. Die modulare SWIR-Mikroskopie schließt die Lücke zwischen konventionellen optischen Systemen und spezialisierter IR-Bildgebung und bietet eine unvergleichliche Präzision für die Material- und Elektronikprüfung der nächsten Generation. Die modularen SWIR-Mikroskope sind entscheidend für: 1. Halbleiterherstellung: Erkennung von Defekten unter der Oberfläche von Silizium-Wafern und Chip-Verbindungen. 2. Materialwissenschaft: Identifizierung unsichtbarer Risse in Keramiken oder Verbundwerkstoffen. 3. Industrielle Inspektion: Analyse von unterirdischen Strukturen in Bauteilen ohne zerstörende Demontage