Hitachi bietet eine hochpräzise Hintergrundkorrektur und hochempfindliche Messungen durch die Verwendung der polarisierten Zeeman-Korrekturmethode zusammen mit der Doppeldetektor-Methode.
Der neue schnelle sequenzielle Modus* (unterstützt die Flammenmethode) ermöglicht einen noch höheren Analysendurchsatz und damit schnelle, präzise und hoch reproduzierbare Messungen in einer Vielzahl von Bereichen, einschließlich Forschung und Qualitätsmanagement.
Merkmale
Polarisierte Zeeman-Korrekturmethode
Hintergrundkorrektur nur mit Hohlkathodenlampe
Die polarisierte Zeeman-Korrekturmethode, bei der ein Dauermagnet verwendet wird, liefert eine stabilisierte Basislinie, unterdrückt die Auswirkungen nebeneinander vorhandener Materialien, die Absorption bei benachbarten Wellenlängen aufweisen, und ermöglicht eine äußerst zuverlässige Analyse.
Doppeldetektor-Methode
Erhöht die Menge des abgetasteten Lichts und reduziert das Rauschen
Die Doppeldetektor-Methode, bei der das Probenlicht und das Referenzlicht von unabhängigen Detektoren abgetastet werden, reduziert das Grundlinienrauschen. Die beiden Lichtquellen werden außerdem gleichzeitig erfasst, was die Genauigkeit der Korrekturen erhöht.
Breiter Hintergrund-Erfassungsbereich
Alle Elemente werden von der Polarized-Zeeman-Korrekturmethode abgedeckt
Die Hintergrundkorrektur kann für Elemente durchgeführt werden, die eine Absorption im ultravioletten oder sichtbaren Bereich aufweisen. Die polarisierte Zeeman-Korrekturmethode ist eine Möglichkeit der Korrektur und hat den Vorteil, dass sie nicht für jedes Element ausgewählt werden muss. Sie kann auch Elemente korrigieren, die mit der D2-Lampenkorrekturmethode nicht korrigiert werden können, wie z. B. Natrium und Kalium.
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