AFM-Mikroskop SignatureSPM

optischRamanLabor

SignatureSPM ist das erste Mikroskop, das auf einer multimodalen Charakterisierungsplattform aufgebaut ist und ein automatisiertes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit einem Raman-/Photolumineszenzspektrometer integriert, was echte kolokalisierte Messungen physikalischer und chemischer Eigenschaften ermöglicht. Durch die kombinierten physikalischen und chemischen Erkenntnisse, die in einer einzigen Messung in Echtzeit gewonnen werden, kann der Forscher eine zuverlässige und umfassende Analyse der Probe erhalten, mit einer verkürzten Zeit bis zur Erkenntnis dank einer geringeren Probenhandhabung und einer Datenerfassung mit einem hohen Vertrauensniveau dank der Korrelation von Differenzmessungen. Alle AFM-Modi als Standard enthalten Alle AFM-Modi sind im Basispaket des SignatureSPM enthalten: Kelvin-Probe-Mikroskopie, Piezo-Response-Kraftmikroskopie, Magnetische Kraftmikroskopie, Nanolithographie, Kraftkurvenmessungen. Weitbereichsspektrometer, optimiert für Raman und Photolumineszenz Das für die Bildgebung in der Spektroskopie konzipierte Spektrometer des SignatureSPM gewährleistet mit seinem achromatischen Design und einer beeindruckenden Lichtreflexion von 95 % minimale Lichtverluste. Dank seines vielseitigen Designs, das bis zu 3 Gitter für einen breiten Spektralbereich aufnehmen kann, bietet es eine einzigartige Fähigkeit zur Durchführung genauer und effizienter Raman- und PL-Messungen. Echte ko-lokalisierte Messungen mit "Probe away" Der Softwarebefehl "Probe away" bewegt den Cantilever von der Probenoberfläche weg, so dass völlig ungehinderte konfokale Raman-Karten erhalten werden können. Mit dem Befehl "Probe back" kehrt die AFM-Spitze automatisch zu ihrem vorherigen Analysepunkt auf der Probenoberfläche zurück.