Kondensationspartikelzähler NanoAir™ 10
für die Pharmaindustriefür ReinraumProzess

Kondensationspartikelzähler
Kondensationspartikelzähler
Kondensationspartikelzähler
Kondensationspartikelzähler
Kondensationspartikelzähler
Kondensationspartikelzähler
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Technologie
Kondensation
Anwendung
für Reinraum, für die Pharmaindustrie, Prozess
Weitere Eigenschaften
tragbar

Beschreibung

Der NanoAir™ Kondensationspartikelzähler (CPC) ist ein revolutionäres neues Produkt von Particle Measuring Systems (PMS). Er bietet die Empfindlichkeit eines CPC mit der Benutzerfreundlichkeit und Funktionalität eines herkömmlichen Reinraum-Partikelzählers. Er wurde für die Überwachung ultrareiner Umgebungen entwickelt und bietet eine Nachweisempfindlichkeit von 10 nm bei einem Probendurchsatz von 2,8 l/min (0,1 CFM). Die Größe des NanoAir ist 83 % kleiner als die von Wettbewerbsprodukten, so dass er überall in ultrareinen Umgebungen eingesetzt werden kann, auch in Halbleiterprozess-Tools und Equipment Front-End-Modulen (EFEM). Das innovative, zum Patent angemeldete System zur Handhabung von Arbeitsflüssigkeiten ist robust und effizient und ermöglicht einen Dauerbetrieb rund um die Uhr, 365 Tage im Jahr, ohne jegliche Wartung oder Benutzereingriffe. Dadurch werden Unterbrechungen bei der Probenahme und Datenerfassung sowie Ausfallzeiten des Geräts reduziert. Ein Begleitprodukt mit 10 Anschlüssen (ParticleSeeker™) unterstützt Anwendungen, bei denen mehrere Probenstellen in aufeinanderfolgenden oder programmierten Sequenzen überwacht werden müssen. Darüber hinaus ist der NanoAir mit dem HPD-III von PMS hochdruckgaskompatibel, und die Daten können mit der Anlagenüberwachungssoftware PMS Facility Net angezeigt, analysiert und gemeldet oder direkt an SCADA-Systeme von Drittanbietern oder Prozesswerkzeugeingänge übertragen werden. Produktdetails Die Nullzählung beträgt <1,5 Zählungen/m3 ohne Verwendung von Nullzählungs- Subtraktionsverfahren Zähleffizienz bei: 10 nm = 50% ± 20%, 15 nm = 100% ± 10%

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von Particle Measuring Systems anzeigen

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

PDA Good Aseptic Manufacturing Conference

15-16 Mai 2024 Stuttgart (Deutschland)

  • Mehr Informationen
    ACHEMA 2024
    ACHEMA 2024

    10-14 Juni 2024 Frankfurt (Deutschland)

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.