Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren und Ihre Produktivität steigern. Untersuchen Sie neue Materialien, Partikel für die Qualitätssicherung oder biologische oder geologische Proben. Bei der hochauflösenden Bildgebung müssen Sie keine Kompromisse mehr eingehen – entscheiden Sie sich einfach für niedrige Spannungen. So profitieren Sie von einer verbesserten Auflösung und erhöhtem Kontrast bei 1 kV oder niedriger. Dank moderner analytischer Mikroskopie mit optimal abgestimmter EDX-Geometrie erhalten Sie analytische Daten mit doppelter Geschwindigkeit und größerer Präzision.
Erste Wahl für zentrale Einrichtungen. Intuitive Bildaufnahme.
Geführte Anleitung von der Einrichtung bis zu den KI-gestützten Ergebnissen. Entdecken Sie den intuitiven Imaging-Workflow.
Sichtbarer Unterschied schon bei 1 kV und weniger Erzielen Sie eine verbesserte Auflösung und optimierten Kontrast.
Für druckvariable Bildgebung in Extrembereichen. Erzielen Sie hervorragende Ergebnisse bei Nichtleitern.
Analyse mit hohem Durchsatz. Automatisierte In-situ-Experimente.
Effiziente Analyse praxisbezogener Proben: SEM-basierte Analysen mit Schnelligkeit und Vielseitigkeit.
Automatisieren Sie Ihre In-situ-Experimente: Ein voll integriertes Labor für unbeaufsichtigte Prüfungen.
Bilden Sie schwierige Proben unter 1 kV ab: Erfassen Sie umfassende Probeninformationen
Intuitiver anleitender Imaging-Workflow
Von der Einrichtung bis zu den KI-gestützten Ergebnissen