Optisches Mikroskop LSM 900
für MaterialforschunginversFluoreszenz

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendung
für Materialforschung
Ergonomie
invers
Beobachtungstechnik
Fluoreszenz, 3D, Konfokales Laser-Scanning, Polarisation, Topographie
Konfigurierung
Tischgerät
Räumliche Auflösung

120 nm, 405 nm, 488 nm, 561 nm, 640 nm

Beschreibung

Das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop ZEISS LSM 900 ist das ideale System für Ihre Materialanalysen. Charakterisieren Sie damit die Oberflächentopografie von dreidimensionalen Mikrostrukturen, in Ihrem Labor oder in einer Einrichtung mit mehreren Benutzern. Kombinieren Sie die hochpräzisen Topografien mit allen für Materialien wichtigen lichtmikroskopischen Kontrastverfahren. Sie sparen Zeit bei der Einrichtung, da Sie das Mikroskop nicht zu wechseln brauchen. Und Sie können die Oberflächenrauheit mit berührungsloser konfokaler Bildgebung bewerten. LSM 900 ist das ideale Werkzeug für eine Mehrbenutzerumgebung. Erweitern Sie Ihr aufrechtes Lichtmikroskop ZEISS Axio Imager.Z2m oder Ihr inverses Lichtmikroskop ZEISS Axio Observer 7 mit einem konfokalen Scanning-Modul. Kombinieren Sie Lichtmikroskopie und konfokale Bildgebung Effiziente Untersuchung Ihrer Probe Für erweiterte Bildgebung ombinieren Sie Lichtmikroskopie und konfokale Bildgebung LSM 900, die High-End-Plattform für konfokale Bildgebung, wurde für anspruchsvolle Materialanwendungen in 2D und 3D konzipiert. Ihre Möglichkeiten: Charakterisieren Sie topografische Strukturen und bewerten Sie die Oberflächenrauheit mittels berührungsloser konfokaler Bildgebung​ Bestimmen Sie zerstörungsfrei die Dicke von Beschichtungen und Dünnfilmen​ Verwenden Sie vielzählige Bildgebungstechniken, einschließlich Polarisation und Fluoreszenz im optischen Kontrast oder im Konfokalmodus​ Charakterisieren Sie materialographische Proben im Auflicht sowie Dünnschliffe aus Gestein oder Polymer im Durchlicht Effiziente Untersuchung Ihrer Probe Da Sie Zeit beim Einrichten sparen, kommen Sie so schneller zu einem Ergebnis.

VIDEO

Kataloge

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.