Röntgenmikroskop Xradia Ultra

für Materialforschungfür BiowissenschaftenPhasenkontrast

tgennanotomographie an einem Synchrotron ermöglicht zerstörungsfreies 3D-Imaging im Nanobereich. Allerdings muss man sich für eine sehr begrenzte Strahlzeit bewerben. Wie wäre es, wenn Sie keine Zeitzuteilung im Synchrotron mehr abwarten müssten? Stellen Sie sich vor, Sie hätten die Möglichkeiten eines Synchrotrons in Ihrem eigenen Labor. Die ZEISS Xradia Ultra Produktfamilie bietet Ihnen zerstörungsfreie 3D-Röntgen-Mikroskope (XRM), mit denen Sie Auflösungen im Nanobereich und in synchrotronähnlicher Qualität erzielen. Sie haben die Wahl zwischen zwei Modellen: ZEISS Xradia 810 Ultra und ZEISS Xradia 800 Ultra sind beide auf eine optimale Bildqualität für Ihre gängigsten Anwendungsgebiete abgestimmt. Zerstörungsfreies Imaging in der nativen Umgebung​ 3D-Röntgen-Imaging im Nanobereich in einer räumlichen Auflösung bis hinunter zu 50 nm und Voxelgrößen von 16 nm In-situ-Experimente in 3D oder 4D Quantifizierung von Nanostrukturen und Nutzung der Daten als Grundlage für die Modellbildung Hart- und Weichmaterialien untersuchen Zerstörungsfreies Imaging im Nanobereich – der Turbo für Ihre Forschung​ Nutzen Sie das einzigartige zerstörungsfreie Imaging, um Phänomene im Nanobereich in ihrer nativen Umgebung dreidimensional zu beobachten. ​ Profitieren Sie von dem derzeit einzigen Gerät, das die Lücke zwischen XRMs mit Submikronauflösung (z. B. ZEISS Xradia Versa) und hochauflösendem – allerdings zerstörendem – 3D-Imaging (z. B. FIB-SEMs) schließt.​ Mit den integrierten In-situ-Lösungen führen Sie fortschrittliches zerstörungsfreies 3D-/4D-Röntgen-Imaging direkt in Ihrem Labor durch, und das in einer Auflösung bis hinunter zu 50 nm und einer Voxelgröße von 16 nm.