Messgerät für Spektrometer DSR300

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Das Mikro-Nano-Spektralempfindlichkeitsmesssystem der DSR300-Serie ist für niedrigdimensionale Materialien bestimmt und bietet hochpräzise Spektral- und Photostrom-Scanning-Messungen. 40 m Erfassungspunkt machen das System kann die minimale Größe 100 μm Probe messen. Die ultrahochstabile Lichtquelle sorgt für hohe Genauigkeit; mehrere Lichtquellen können in das System integriert werden, um eine Vielzahl von Detektoren zu messen. Die freundliche Software ist einfach zu bedienen und automatisch steuern das Gerät zu bedienen. Funktion： ■ Spektrale Empfindlichkeit ■ Externer Quantenwirkungsgrad ■ Vorspannung IT-Kurve ■ LBIC-Abbildung ■ Test der Reaktionslinearität Wichtigste technische Parameter Lichtquelle Xenon-Lichtquelle Spektralbereich: 250 - 1800 nm Instabilität: ＜ 1% Superkontinuum-Lichtquelle Spektralbereich: 400 - 2400 nm Frequenz: 0,01 - 200 MHz Impulsbreite: 100 ps CW-Laser Optionale Wellenlänge: 405 nm, 532 nm, 633 nm, 808 nm, 980 nm; Instabilität: ＜ 1% Gepulster Laser Wahlweise Wellenlänge: 375 nm, 405 nm, 488 nm, 785 nm, 976 nm; Impulsbreite: 100 ps Frequenz: 1-20 MHz Mikrolinse 10x Objektiv (Standard) Arbeitsabstand＞17 mm NA: 0,42 Spektralbereich: 350 - 800 nm 50-fache Objektivlinse Arbeitsabstand＞17 mm NA: 0,42 Spektralbereich: 480 - 1800 nm 50x UV-Objektiv Arbeitsabstand＞12 mm NA: 0,42 Spektralbereich: 240 - 500 nm 40x reflektierende Objektivlinse Arbeitsabstand＞7,8 mm NA: 0,5 Spektralbereich: 200 nm - 20 um Datenerfassungseinheit Lock-in-Verstärker Frequenz: 20 Hz - 1 KHz Drift: ＜ 0,1°/℃ unter 10 kHz Spannungs- oder Stromeingangsmodus 1nV bis 1V Vollskalenempfindlichkeit Stromverstärkung 106 oder 108 V/A Dynamische Reserve >100 dB Anzeige: X、Y、R、θ