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Das Epsilon 1 ermöglicht das Screening und die Quantifizierung mittels RFA für eine unbegrenzte Anzahl von Anwendungen und viele Arten von Proben. Kalibriert ist das Gerät mit Omnian, unserem marktführenden Softwarepaket zur standardfreien Analyse, das ...
Malvern Panalytical
Der wellenlängendispersive Wafer-Analyzer (WDRFA) 2830 ZT bietet die ultimativen Möglichkeiten zur Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten. Speziell für die Halbleiter- und Datenspeicherindustrie entwickelt, ermöglicht der Wafer-Analyzer 2830 ...
Malvern Panalytical
Wellenlänge: 350 nm - 2.500 nm
Die spektrale 3-nm-VNIR-Auflösung mit 10-nm-SWIR des Laboranalysators ASD LabSpec® 4 Standard-Res mit Standardauflösung ist ideal für die präzise Spektralanalyse einer Vielzahl von Materialien. Die spektrale SWIR-Auflösung von 10 nm bildet die Grundlage ...
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Wellenlänge: 350 nm - 2.500 nm
... Hervorragende spektrale Auflösung für scharfe Merkmalerkennung Das hochauflösende Analysespektrometer ASD LabSpec® 4 Hi-Res wurde zur Analyse von Materialien entwickelt, die durch scharfe Spektralmerkmale charakterisiert sind, die möglicherweise eine ...
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... 28 Elementen, die gleichzeitig in Konzentrationsbereichen von ppm bis 100 % gemessen werden, ist der das simultane WDRFA- Spektrometer Axios FAST von Malvern Panalytical die ideale Lösung. Präzise und robuste Analyse, einfache Bedienung ...
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... lose Pulver vorliegen. Das speziell für anspruchsvollste Anforderungen in der Prozesskontrolle und F&E konzipierte Zetium- Spektrometer ist mit seiner hochwertigen Ausführung und seinen innovativen Funktionen zur Analyse von Be bis Am ...
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