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Radiology Support Devices Hochauflösungsmikroskope
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... Das Icon AFM-Raman-System vereint die sich ergänzenden Techniken der Rasterkraftmikroskopie und der Raman-Mikroskopie, um wichtige Informationen über die Topographie und die chemische Zusammensetzung einer Probe zu liefern. Wenn diese Techniken mit fortschrittlichen ...
Bruker Nano Surfaces
... Das kompakte Innova®-Atomkraftmikroskop (AFM) bietet Anwendungsflexibilität für die anspruchsvollste wissenschaftliche Forschung zu moderaten Kosten. Sein einzigartiges Closed-Loop-Scan-Linearisierungssystem sorgt für genaue Messungen und ein Rauschverhalten, ...
Bruker Nano Surfaces
... Die lange Erfolgsgeschichte der MultiMode®-Plattform basiert auf der Kombination aus überragender Auflösung, Leistung und unvergleichlicher Vielseitigkeit und Produktivität. Das MultiMode 8-HR Rasterkraftmikroskop (AFM) entwickelt diese Fähigkeiten weiter ...
Bruker Nano Surfaces
... Der NanoWizard® V kombiniert hohe räumliche und zeitliche Auflösung mit einem großen Scanbereich, flexiblem Experimentdesign und hervorragender Integration mit modernen optischen Mikroskopsystemen. Seine automatisierte Einrichtung, Ausrichtung und Nachjustierung ...
Bruker Nano Surfaces
... In den Dimension XR Rastersondenmikroskop-Systemen (SPM) von Bruker stecken Jahrzehnte der Forschung und technologischen Innovation. Mit routinemäßiger atomarer Defektauflösung und einer Vielzahl einzigartiger Technologien wie PeakForce Tapping®, DataCube-Modi, ...
Bruker Nano Surfaces
... Das Dimension Icon® von Bruker bietet Forschern in Wissenschaft und Industrie im Nanobereich ein Höchstmaß an Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit. Es baut auf der weltweit meistgenutzten AFM-Plattform für große Proben auf und ist der Höhepunkt ...
Bruker Nano Surfaces
... Das Dimension FastScan® Rasterkraftmikroskop (AFM) wurde speziell für schnelles Scannen ohne Auflösungsverlust, Verlust der Kraftkontrolle, zusätzliche Komplexität oder zusätzliche Betriebskosten entwickelt. Mit FastScan erhalten Sie sofortige AFM-Bilder ...
Bruker Nano Surfaces
... Das OT-AFM Combi-System verbindet die außergewöhnlichen Möglichkeiten der Oberflächenkraftmessung und -abbildung des AFM mit der Fähigkeit der optischen Pinzette, kleinste Kräfte in 3D aufzubringen und zu messen. Umfassend Nano-Werkzeugkasten aus einer ...
Bruker Nano Surfaces
... Das Dimension FastScan Bio Rasterkraftmikroskop (AFM) ermöglicht die hochauflösende Erforschung der biologischen Dynamik mit einer zeitlichen Auflösung von bis zu 3 Bildern pro Sekunde für die Beobachtung von Live-Proben. Darüber hinaus ist das AFM so ...
Bruker Nano Surfaces
... Das Rasterkraftmikroskop NanoWizard 4 XP von BioScience vereint atomare Auflösung und schnelles Scannen mit Raten von bis zu 150 Linien/Sekunde und einem großen Scanbereich von 100 µm in einem System. Es wurde entwickelt, um bei Langzeitexperimenten an ...
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