Röntgendiffraktometer ADX-2500

für Forschungszwecke

Das ADX-2500 Röntgendiffraktometer (XRD) ist für den Einsatz in der Mikrostrukturmessung, -prüfung und für eingehende Forschungsuntersuchungen konzipiert. Mit verschiedenen Zubehörteilen und der entsprechenden Steuerungs- und Berechnungssoftware ist das ADX-2500 XRD ein Beugungssystem, das den praktischen Anforderungen in vielen Bereichen entspricht. Das ADX-2500 Röntgendiffraktometer ermöglicht die Strukturanalyse von einkristallinen, polykristallinen und amorphen Proben. Das ADX-2500 Röntgendiffraktometer bietet folgende Funktionen: qualitative und quantitative Phasenanalyse (RIR, interne Standardkalibrierung, externe Standardkalibrierung, additives Kriterium), Musterindizierung, Einheitszellenbestimmung und -verfeinerung, Kristallitgrößen- und Dehnungsbestimmung, Profilanpassung und Strukturverfeinerung, Eigenspannungsbestimmung, Texturanalyse (ODF drückt die dreidimensionale Polfigur aus), Kristallinitätsabschätzung aus Peakflächen, Dünnschichtanalyse und andere. Merkmale Perfekte Integration von Hard- und Software ermöglicht es dem ADX-2500 Röntgenbeugungsgerät, verschiedene Arten von Analysen für Forscher aus unterschiedlichen Bereichen durchzuführen; Die hohe Präzision der Beugungswinkelmessung ermöglicht es dem ADX-2500 X-ray Diffraction, genauere Daten zu erhalten; Die höhere Stabilität des Röntgengenerator-Kontrollsystems sorgt für eine ausgezeichnete Messgenauigkeit; Einfaches und effektives Design macht das ADX-2500 XRD einfach zu bedienen und benutzerfreundlich. Software Allgemeine Beugungsdatenverarbeitung: automatische Peak-Suche, manuelle Peak-Suche, integrale Intensität, Trennung von Kα1, α2, Hintergrund entfernen, Muster Glättung und Vergrößerung, mehrere Plot, dreidimensionale Plot und Simulation von X-ray Diffraction (XRD) Muster.