AFM-Spektrometer Dimension IconIR

InfrarotFT-IRfür die Nanotechnik

Das Dimension IconIR System von Bruker kombiniert Infrarot-Spektroskopie (IR) im Nanobereich und Rastersondenmikroskopie (SPM) auf einer Plattform und bietet akademischen Forschern und industriellen Anwendern die fortschrittlichsten Spektroskopie-, Bildgebungs- und Eigenschaftskartierungsfunktionen. IconIR ist das Ergebnis jahrzehntelanger Forschung und technologischer Innovation und bietet eine unübertroffene Leistung, die auf den branchenweit besten AFM-Messfunktionen des Dimension Icon® aufbaut. Das System ermöglicht korrelative Mikroskopie und chemisches Imaging mit verbesserter Auflösung und Monolayer-Empfindlichkeit, während seine einzigartige Architektur für große Proben ultimative Probenflexibilität für ein breites Spektrum von Anwendungen bietet. Die neue IconIR-Polymerlösung beispielsweise ist ein Komplettpaket, das alles enthält, was man für die wichtigsten Anforderungen in der Polymerforschung benötigt. Große Probenmenge nanoIR-Spektroskopie mit höchster Leistung Bietet mehr Flexibilität und Leistung für verschiedene Probentypen und Anwendungen. Korrelativ kartierung chemischer und nanoskaliger Eigenschaften Liefert quantitative nanochemische, nanomechanische und nanoelektrische Daten. photothermische AFM-IR-Bildgebung Ermöglicht eine hochauflösende Charakterisierung mit Monolayer-Empfindlichkeit. In einem einzigen System bietet IconIR die höchste Leistung für Infrarotspektroskopie im Nanobereich, Auflösung für chemische Bildgebung und Empfindlichkeit für Monoschichten. Nur Dimension IconIR liefert: Leistungsstarke nanoIR-Spektroskopie mit genauer und wiederholbarer FT-IR-Korrelation, chemischer Auflösung <10 nm und Monolayer-Empfindlichkeit Korrelatives chemisches Imaging mit nanomechanischen und nanoelektrischen PeakForce Tapping®-Modi