Optisches Mikroskop SEM5000
Feldemissions-Raster-medizinischTischgerät

optisches Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
optisch, Feldemissions-Raster-
Anwendung
medizinisch
Konfigurierung
Tischgerät
Weitere Eigenschaften
Hochauflösung
Vergrößerung

Max: 2.500.000 unit

Min: 1 unit

Beschreibung

CIQTEK SEM5000 ist ein hochauflösendes, funktionsreiches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM, FEG SEM). Erweiterte Spalte Design, Hochspannungs-Tunnel-Technologie (SuperTunnel), niedrige Aberration nicht Leckage magnetische Objektiv-Design, um Low-Voltage hochauflösende Bildgebung zu erreichen, während magnetische Proben angewendet werden können. Optische Navigation, fortschrittliche automatische Funktionen, gut durchdachte Mensch-Maschine-Interaktion und optimierte Bedienung. Ob erfahren oder nicht, man kann schnell mit hochauflösenden Aufnahmeaufgaben beginnen. Merkmale 01 Hochauflösende Aufnahmen bei niedriger Beschleunigungsspannung. 02 Der elektromagnetische Verbundspiegel reduziert Aberrationen, verbessert die Auflösung bei niedrigen Spannungen erheblich und ermöglicht die Beobachtung magnetischer Proben. 03 Hochdruck-Tunneltechnologie (SuperTunnel), bei der die Elektronen im Tunnel eine hohe Energie beibehalten können, was Raumladungseffekte reduziert und die Auflösung bei niedriger Spannung gewährleistet. 04 Der elektronische Strahlengang ohne Überkreuzung reduziert effektiv die Systemaberration und verbessert die Auflösung. 05 Wassergekühlte Objektivlinse mit konstanter Temperatur, um die Stabilität, Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit der Objektivlinse zu gewährleisten. 06 Magnetische Ablenkung sechs-Loch einstellbare Blende, automatische Umschaltung Blende Loch, keine mechanische Einstellung, um hochauflösende Beobachtung oder große Strahlanalyse-Modus schnelles Umschalten zu erreichen. Software - Betriebssystem - Windows Navigation - Optische Navigation, Gesten-Schnellnavigation Automatische Funktionen - Auto-Helligkeit-Kontrast, Auto-Fokus, automatische Ableitung Standard - Der elektronische Hochwinkeldetektor in der Objektivsäule Der seitliche elektronische Niederwinkel-Detektor

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 Nov. 2024 Shanghai (China)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.