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... ist das erste Mikroskop, das auf einer multimodalen Charakterisierungsplattform aufgebaut ist und ein automatisiertes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit einem Raman-/Photolumineszenzspektrometer integriert, was echte kolokalisierte Messungen ...
HORIBA Scientific
... Dimension Nexus™ bietet eine ideale Kombination aus Datenqualität, Experimentierflexibilität und Benutzerfreundlichkeit in einem System mit geringem Platzbedarf. Es beinhaltet die bahnbrechenden Innovationen des Bruker NanoScope® 6 Controllers, die PeakForce ...
Bruker Nano Surfaces
Räumliche Auflösung: 0,3 nm
... Die AFM100-Serie ist Hitachis Sondenmikroskopie-Plattform der nächsten Generation. Die Systeme AFM100 Plus und AFM100, die diese Serie bilden, wurden entwickelt, um die Möglichkeiten und die Leistung der Rasterkraftmikroskopie zu erweitern und gleichzeitig ...
... Der HEKA ELP 3 ist ein elektrochemischer Sonden-Scanner mit integrierter inverser Mikroskop-Optik. Er ist die perfekte Plattform für den Einsatz mit biologischen Proben. Das HEKA ELP 3 System kombiniert den ElProScan mit Durchlicht-Imaging und Fluoreszenz-Imaging ...
... Das Asylum Research MFP-3D-BIO setzt den Standard für die Integration von AFM und optischer Mikroskopie für die biowissenschaftliche Forschung. Es ist das einzige Bio-AFM, das keine Kompromisse bei der AFM-Bildauflösung, der Kraftmessungsleistung oder ...
Räumliche Auflösung: 0,26, 0,1 nm
... hohe Leistung Eingebettetes Echtzeit-Betriebssystem Schnelle Ethernet-Verbindung mit dem Computer Multifunktionale Rasterkraftmikroskop (AFM) Lateralkraftmikroskop (LFM) Kraft-Analyse: I-V-Kurve, I-Z-Kurve, Kraftkurve Online-Echtzeit-3D-Bild ...
... geschlossenen Regelkreis (optional) → einfaches Auffinden von Regionen von Interesse Das attoAFM I ist ein kompaktes Rasterkraftmikroskop, das speziell für Anwendungen bei niedrigen und ultratiefen Temperaturen und in hohen Magnetfeldern ...
Vergrößerung: 25 unit - 200.000 unit
Gewicht: 330 kg
Länge: 835 mm
... schnell mehr nützliche und neue Daten zu liefern. Das FusionScope bietet alle Vorteile eines voll funktionsfähigen Rasterkraftmikroskops mit SEM. Es beherrscht die meisten normalen Messmodi, die man von einem Standard-AFM erwartet, einschließlich ...
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