Nahinfrarot-Spektralphotometer UH4150

UV-sichtbarTischgerät

Jetzt ist das Modell UH4150 aufgetaucht, das die Zuverlässigkeit des Spektralphotometers U-4100 übernommen hat, von dem insgesamt mehr als 1.500*1 Einheiten ausgeliefert wurden. Merkmale Geringe Signalpegelunterschiede beim Umschalten des Detektors ermöglichen hochpräzise Messungen, auch wenn die Wellenlänge des Detektors gewechselt wird. In der Ulbricht-Kugel sind mehrere Detektoren installiert, um Messungen in einem breiten Wellenlängenbereich, vom Ultraviolett über den sichtbaren Bereich bis zum nahen Infrarot, durchzuführen. Die Änderungen der photometrischen Werte beim Umschalten der Detektoren (aufgrund von Signalpegelunterschieden) werden durch ein Design minimiert, das auf Hitachis Fachwissen in der Konstruktion von Ulbricht-Kugeln, Signalverarbeitungstechnologien usw. beruht. Geringes Streulicht und niedrige Polarisationseigenschaften werden durch Hitachis Hochleistungs-Doppelmonochromatorsystem mit Prismengittern erreicht. Das UH4150 verwendet ein optisches Doppelmonochromatorsystem mit Prismengitter (P-G) und setzt damit den guten Ruf des optischen Systems U-4100 fort. Große Änderungen der Lichtintensität der S- und P-Polarisation sind bei dem Prismen-Gitter-System (P-G) weniger wahrscheinlich als bei dem allgemein verwendeten Gitter-Gitter-System (G-G). Das UH4150 bietet rauscharme Messungen, selbst bei Proben mit niedrigem Transmissionsgrad und Reflexionsgrad. Der kollimierte Lichtstrahl ermöglicht eine genaue Messung von reflektiertem Licht und Streulicht. Der Einfallswinkel ist wichtig für die Messung der spiegelnden Reflexion von festen Proben. Bei fokussierten Lichtstrahlen variiert der Einfallswinkel je nach Brennweite der Linse usw. Folglich weichen die Simulationswerte für optische Dünnschichten, wie dielektrische Mehrschichtfolien und Prismen, von den tatsächlich gemessenen Werten ab.