Spektroskopisches Ellipsometer Auto SE
für Forschungszwecke

spektroskopisches Ellipsometer
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Eigenschaften

Typ
spektroskopisch
Anwendung
für Forschungszwecke

Beschreibung

Beim AutoSE handelt es sich um ein neues Schichtmesssystem für die vollautomatische Analyse von Dünnschichtproben auf Knopfdruck. Auto SE, Simple Thin Film Measurement Tool Die Probenanalyse dauert nur wenige Sekunden und wird mit einem umfangreichen Bericht abgeschlossen, der das Dünnschichtsystem vollständig beschreibt, einschließlich Filmdicke, optische Konstanten, Oberflächenrauhigkeit und Filmhomogenität.

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Spectroscopic Ellipsometry

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.