Verbessern Sie Ihre Entscheidungsfindung im Interesse der Produktqualität und sparen Sie Zeit, indem Sie sich mit den optischen Inspektionssystemen DM8000 M und DM12000 M tiefere Einblicke in die Proben verschaffen.
Diese Inspektionsmikroskope bieten schnelle und zuverlässige Inspektionen und Analysen von Materialien wie Halbleiter und Wafer, so dass Sie die Qualitätskontrolle sicherstellen und Defekte schnell erkennen können.
Verborgene Details sichtbar machen
Erkennen Sie Defekte und führen Sie schnell Probenübersichten für eine bessere Analyse und Entscheidungsfindung durch.
Optimieren Sie Ihre Arbeitsweise
Dank Automatisierung und benutzerfreundlicher Bedienung sind weniger Anpassungen nötig, was Ihnen im Inspektionsprozess wertvolle Zeit spart.
Hoher Bedienerkomfort in einer sicheren und kontrollierten Umgebung
Arbeiten Sie in einer entspannten Arbeitsposition, die während des gesamten Inspektionsprozesses optimalen Komfort bietet, und steigern Sie so Ihre Produktivität.
Schnelle Visualisierung von Strukturen und Defekten
Erkennen und analysieren Sie verschiedene Strukturen und Defekte, wie Kratzer und Verunreinigungen, auf Ihren Proben. Wählen Sie aus einer Reihe von Beleuchtungs- und Kontrastmethoden, wie Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, differentieller Interferenzkontrast (DIC), Fluoreszenz (Fluo) und Infrarot (IR), damit Sie Ihre Inspektionen schnell und zuverlässig durchführen können. Verbessern Sie die Auflösung mithilfe von ultraviolettem (UV) Licht.
Gewinnen Sie zusätzliche Oberflächeninformationen mithilfe von schräger Beleuchtung.
Kombinieren Sie dies mit UV-Licht, um den Kontrast weiter zu verbessern.