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Optisches Mikroskop DM3 XLLaborInspektionTischgerät
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Eigenschaften
- Typ
- optisch
- Anwendung
- Labor, Inspektion
- Ergonomie
- aufrecht
- Konfigurierung
- Tischgerät
Beschreibung
Bei der Inspektion, Prozesskontrolle oder Analyse von Defekten und Fehlern in der Mikroelektronik- bzw. Halbleiterbranche kommt es auf Schnelligkeit an. Je schneller ein Defekt erkannt wird, desto schneller kann darauf reagiert werden.
30 % größeres Sichtfeld
Mit dem einzigartigen Makroobjektiv des DM3 XL profitieren Sie von einem 30% größeren Sichtfeld. Das ermöglicht Ihnen eine schnellere Erkennung von Defekten und steigert Ihren Durchsatz.
Kataloge
DM3 XL
7 Seiten
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.