Focused-Ion-Bea-Mikroskop Crossbeam series

Feldemissions-Raster-FIB-SEMLabor

Kombinieren Sie erstklassige FE-SEM-Leistung mit FIB-Bearbeitung: ZEISS Crossbeam verbindet die Imaging- und Analyseleistung eines hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit den Bearbeitungsfunktionen eines fokussierten Ionenstrahls (FIB) der nächsten Generation. Das gilt für die Nutzung in Mehrbenutzerumgebungen ebenso wie für wissenschaftliche oder industrielle Labore. Profitieren Sie von den Vorteilen des modularen Konzepts der Plattform und passen Sie Ihr System dynamisch an Ihre Anforderungen an, z. B. mit dem LaserFIB für den massiven Materialabtrag. Ganz gleich, ob Abtrag, Imaging oder 3D-Analyse: ZEISS Crossbeam beschleunigt Ihre FIB-Anwendungen. Mehr Erkenntnisse aus SEM-Untersuchungen Höherer Probendurchsatz bei FIB-Anwendungen FIB-SEM-Analysen in bester 3D-Auflösung Mehr Erkenntnisse aus SEM-Untersuchungen Sie profitieren von einer um bis zu 30 % besseren SEM-Auflösung bei geringer Spannung – dank Tandem decel, einer Funktion der neuen ZEISS Gemini-Elektronenoptik.​ Erhalten Sie mit der Gemini-Elektronenoptik unverfälschte Probeninformationen aus hochaufgelösten SEM-Bildern.​ Die SEM-Leistung von Crossbeam ist absolut zuverlässig, sowohl bei oberflächenempfindlichen 2D-Bildern als auch bei 3D-Tomographien. Sie erhalten hochauflösende Bilder mit hohem Kontrast und hohem Signal-Rausch-Verhältnis – selbst beim Einsatz sehr niedriger Beschleunigungsspannungen. Sie können Ihre Probe umfassend mit verschiedenen Detektoren charakterisieren. Mit dem einzigartigen Inlens EsB-Detektor erhalten Sie einen reinen Materialkontrast.