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Räumliche Auflösung: 0,1, 0,11, 0,25, 0,07, 0,16 nm
Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen atomare ...
Jeol
Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14 nm
Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, eine Vielzahl ...
Jeol
Vergrößerung: 50 unit - 1.200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14 nm
Breite: 840 mm
... Transmissions-Elektronenmikroskope (TEM) mit einer Beschleunigungsspannung von 120 kV werden häufig in Bereichen mit weichen Materialien wie Biologie und Polymeren eingesetzt. Wir haben das JEM-120i mit dem Konzept "Kompakt", "Einfach zu bedienen" und ...
Jeol
... Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung treffen beim FE-SEM der Serie JSM-IT810 auf Automatisierung. Die kodierungsfreie Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analyse sorgt für einen schlanken und effizienten Arbeitsablauf. Neue Funktionen sorgen ...
Jeol
Räumliche Auflösung: 0,5 nm - 3 nm
Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische Aufnahmen, REM-Abbildungen und ...
Jeol
... Tisch-Rasterelektronenmikroskope werden in einer Vielzahl von Bereichen eingesetzt, z. B. in der Elektro-, Elektronik-, Automobil-, Maschinen-, Chemie- und Pharmaindustrie. Darüber hinaus werden REM-Anwendungen nicht nur in der Forschung und Entwicklung, ...
Jeol
Vergrößerung: 150, 10.000, 100, 500, 5.000 unit
Räumliche Auflösung: 3, 15 nm
... Das JSM-IT500 ist die jüngste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung ...
Jeol
Vergrößerung: 20 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 4 nm
Fortschritte in den Materialwissenschaften und in den Life Sciences verlangen immer höhere Anforderungen an die bildgebenden, analytischen und präparativen Möglichkeiten moderner Focused-Ion-Beam-Systeme (FIB). Das Mehrstrahlsystem JEOL JIB-4700F ist ...
Jeol
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