SEM-Mikroskop JCM-7000 NeoScope™

LaborInspektion3D

Tisch-Rasterelektronenmikroskope werden in einer Vielzahl von Bereichen eingesetzt, z. B. in der Elektro-, Elektronik-, Automobil-, Maschinen-, Chemie- und Pharmaindustrie. Darüber hinaus werden REM-Anwendungen nicht nur in der Forschung und Entwicklung, sondern auch in der Qualitätskontrolle und Produktinspektion in Produktionsstätten eingesetzt. Damit steigen die Anforderungen an eine weiter verbesserte Arbeitseffizienz, eine viel schnellere und einfachere Bedienung und ein höheres Maß an Analyse- und Messmöglichkeiten. Das Benchtop-Rasterelektronenmikroskop JCM-7000 wurde auf der Grundlage des Schlüsselkonzepts "Einfach zu bedienendes REM mit nahtloser Navigation und Live-Analyse" entwickelt. Das JCM-7000 verfügt über drei innovative Funktionen: "Zeromag" für einen reibungslosen Übergang von der optischen zur REM-Bildgebung, "Live Analysis" zum Auffinden von Bestandteilen eines Bildbetrachtungsbereichs und "Live 3D" zur Anzeige eines rekonstruierten Live-3D-Bildes während der REM-Betrachtung. Wenn Sie das JCM-7000 neben einem Lichtmikroskop einsetzen, können Sie Fremdmaterial noch schneller und detaillierter analysieren und die Qualität kontrollieren. Schnelle Beobachtung und Analyse ohne Probenbehandlung mit dem Benchtop-REM JCM-7000! -Einführung in die effektive Nutzung des Niedervakuum(LV)-Modus Warum versuchen Sie nicht einmal, isolierende Proben, die den Strom nicht leiten, ohne Vorbehandlung im REM zu untersuchen? Wir stellen Ihnen Beispiele für den effektiven Einsatz des JCM-7000 im Niedervakuummodus (LV) für polymere Materialien, industrielle Materialien, Mineralien, Lebensmittel und lebende Organismen/Pflanzen vor.