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Probenvorbereitungsgeräte für elektronische Übertragungsmikroskope
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... Schonende, effektive Entfernung von Kohlenwasserstoffen für sauberere SEM- und TEM-Aufnahmen UV-basierte Reinigung ohne Chemikalien oder Gasversorgung Schnelle, beschädigungsfreie Entfernung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen Touchscreen-Oberfläche ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Der Tisch-Probenreiniger ZONESEMII nutzt eine UV-basierte Reinigungstechnologie, um Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die Bildgebung in der Elektronenmikroskopie zu minimieren oder zu beseitigen. Übersicht Die Vorbereitung, Handhabung oder Lagerung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Hohe Fräsleistung: Schnelle und effiziente Probenvorbereitung für harte Materialien Querschnitts- und Flachfräsen: Flexible Optionen für unterschiedliche Anwendungen Kryogene Kühlung (optional): Reduziert Schäden an temperaturempfindlichen Proben Benutzerfreundliche ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... beispielsweise bei elektronischen Bauteilen auftreten, wurde ein revolutionäres Design für den Querschnittsfräshalter entwickelt, das die Fertigung größerer Flächen ermöglicht. Beispiel für großflächiges Querschnittsfräsen (Probe: elektronisches ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
automatisiertes ProbenvorbereitungsgerätQG-3100
... Automatisierter EM-Färber Nach der Ultramikrotomie müssen die meisten Schnitte mit Blei- und Uranylsalzen kontrastiert werden. Beide sind nicht nur gefährlich, wenn sie nicht richtig gehandhabt werden, sondern können auch Ausfällungen während des Kontrastverfahrens ...
Boeckeler Instruments, Inc.
Boeckeler Instruments, Inc.
automatisches ProbenvorbereitungsgerätEM GP2
... ist für die reproduzierbare Vitrifikation von flüssigen und extrem dünnen Proben auf EM‑Gittern ausgelegt. Proben werden automatisch geblottet, um überschüssige Flüssigkeit zu entfernen, und in flüssiges Ethangas getaucht; der Ablauf ...
Leica Microsystems
... automatisierten Gewebeprozessors EM TP vor. Das System reduziert die manuelle Handhabung um mindestens 75 % durch programmierbare,
automatische Schritte und ermöglicht die Verarbeitung mehrerer Probentypen in einem Durchlauf.
Hauptvorteile
Leica Microsystems
... Probenbetrachtung und die präzise Positionierung.
Hauptmerkmale
- Reduzierte Vorbereitungszeit – Automatische Verdünnung aus 100%-Lagerbehältern minimiert manuelles Reagenzienhandling und vereinfacht die
Leica Microsystems
... Übersicht
Der Kritischer-Punkt-Trockner Leica EM CPD300 bietet ein automatisiertes, kontrolliertes Verfahren zum Trocknen empfindlicher Proben vor der SEM-Analyse. Das Verfahren ersetzt Flüssigkeiten durch ein überkritisches Fluid, um Schäden ...
Leica Microsystems
automatisches ProbenvorbereitungsgerätEM TIC 3X
... Die aktualisierte Version des EM TIC 3X kombiniert – getreu unserem Motto ‘mit dem Anwender, für den Anwender’ – Leistung und Flexibilität in praxisrelevanter Weise. Die verdoppelte Ätzrate des neuesten EM TIC 3X lässt sich mit fünf verschiedenen, ...
Leica Microsystems
... in drei Stärken 6,4 mm, 8 mm oder 10 mm. Einfache Bedienung Der Leica EM KMR3 lässt sich einfach bedienen und die automatische Rückstellung auf die Ausgangskonfiguation des Brechrades und des Ritzmechanismusses hilft Ihnen, Anwendungsfehler ...
Leica Microsystems
Probenvorbereitungsgerät für elektronische ÜbertragungsmikroskopeZONESEMII
... Der ZONESEMII-Tischprobenreiniger verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie, um Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung zu minimieren oder zu beseitigen. Übersicht Die Vorbereitung, Handhabung oder Lagerung ...
automatisches ProbenvorbereitungsgerätPOLISHER™
... jetzt 1.200 μm/h. Kühlsystem mit hohem Durchsatz ~automatische Kühlung und automatische Rückkehr zur Raumtemperatur~ Die Kühlung bis zur Rückkehr zur Normaltemperatur kann automatisch erfolgen. Darüber hinaus kann der ...
Jeol
automatisches ProbenvorbereitungsgerätPOLISHER™
... Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle Analysis“, Abk: ...
Jeol
Der JEOL Cross Section Polisher IB-19520CCP ist ein Präparationswerkzeug mit integrierter Kühlung zur Herstellung von artefaktfreien Querschnitten und zur Nachpolitur von Schliffen. Selbst empfindliche, strahlsensible Proben wie Lötmittel oder biologische ...
Jeol
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