Automatisches Probenvorbereitungsgerät EM TIC 3X

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Die aktualisierte Version des EM TIC 3X kombiniert – getreu unserem Motto ‘mit dem Anwender, für den Anwender’ – Leistung und Flexibilität in praxisrelevanter Weise. Die verdoppelte Ätzrate des neuesten EM TIC 3X lässt sich mit fünf verschiedenen, für unterschiedliche Anforderungen konzipierten Objekttischen noch weiter optimieren. Reproduzierbare Ergebnisse Das Dreifach-Ionenstrahlätzsystem Leica EM TIC 3X ermöglicht das Erstellen von Querschnitten und planen Oberflächen für die Rasterelektronenmikroskopie (Scanning Electron Microscopy - SEM), Mikrostrukturanalyse (EDS, WDS, Auger, EBSD) und AFM-Untersuchungen. Mit dem Leica EM TIC 3X produzieren Sie bei Raumtemperatur oder bei gefrorenen Proben aus fast jedem Material hochwertige Oberflächen, sodass die inneren Strukturen weitestgehend im ursprünglichen Zustand erhalten bleiben. Effizienz Worauf es hinsichtlich der Effizienz eines Ionenstrahlätzsystems wirklich ankommt, sind hohe Qualität und hoher Durchsatz. Dass wir die Ätzrate gegenüber der Vorversion um den Faktor 2 erhöhen konnten, ist noch nicht alles: Das einzigartige Dreifach-Ionenstrahlätzsystem optimiert die Präparationsqualität und reduziert den Arbeitsaufwand. Pro Durchlauf können bis zu drei Proben bearbeitet werden. Das Erstellen von Querschnitten und Polieren kann mit einem Objekttisch erfolgen. Workflow-Lösungen ermöglichen den sicheren und effizienten Probentransport zu nachgeordneten Präparations- oder Analysesystemen. Flexibles System – jederzeit an Ihre Anforderungen anpassbar Die flexible Objekttischauswahl macht das Leica EM TIC 3X zu einem perfekten Gerät – nicht nur für Labore mit hohem Durchsatz, sondern auch für Auftragslabore.