Optisches Mikroskop Visoria M

digitalInspektionLabor

Übersicht
Das Materialmikroskop Visoria M ist für die Routineinspektion und Materialanalyse in den Bereichen Metalle, Elektronik, Polymere sowie für F&E- und QA/QC‑Labore konzipiert. Es kombiniert ergonomische Bedienelemente, kodierte Lichtsteuerung und digitale Workflow‑Optionen zur Effizienzsteigerung und Reduzierung der Anwenderbelastung.

Hauptvorteile

• Ergonomisches Design für lange Einsatzzeiten und Reduzierung repetitiver Belastungen.
• Kodiertes Lichtmanagement und kodierte Funktionen für schnelle, reproduzierbare Wechsel von Vergrößerung und Kontrastmethode.
• Digitale, okulare‑freie Anzeigeoption für direkte Tablet‑Darstellung und platzsparende Aufbauten.

Einfaches Arbeiten
Intuitive Bedienung und Schutzfunktionen ermöglichen schnelle und zuverlässige Routineabläufe.

• Farbkodierte Blendenmarkierungen passend zu den Objektivfarbcodes für schnelle Auswahl.
• Integrierte Fokusbegrenzung zum Schutz von Probe und Objektiven vor unbeabsichtigtem Kontakt.
• Drei‑Gang Fokussystem (grob, mittel, fein) für präzisen Fokus bei hohen Vergrößerungen.

Okularfrei arbeiten mit Digitaloption
Die okulare‑freie Digitalkonfiguration unterstützt moderne Inspektions‑Workflows:

• Direkte Darstellung auf Tablet in ergonomischer Haltung.
• Schnelle Visualisierung, Dokumentation und gemeinsame Auswertung von Ergebnissen.
• Platzersparnis am Arbeitsplatz, da kein PC für die digitale Ansicht erforderlich ist.

Angetrieben von der Enersight‑Softwareplattform
Enersight vereinfacht Erfassung und Auswertung von Bildern mit Funktionen für industrielle Arbeitsabläufe:

• Schichtdickenmessung zur Bestimmung von Beschichtungen und Schichten.
• XY‑Stitching (manuelle Bühne) für große, hochauflösende Sichtfelder.
• Extended Depth of Field (EDOF) für scharfe Aufnahmen bei variabler Oberflächenhöhe.
• Quick Brightness für optimierte Beleuchtungs‑ und Kameraeinstellungen.
• Shading‑Korrektur zur automatischen Kompensation ungleichmäßiger Ausleuchtung.
• Zusammenführung von Bildern aus unterschiedlichen Kontrastmethoden (z. B. Hellfeld und Dunkelfeld) zur verbesserten Interpretation.

Details mit dem passenden Kontrast sichtbar machen
Visoria M unterstützt mehrere Kontrastmethoden zur Erkennung von Strukturen und Defekten in Materialien:

• Hellfeld (Brightfield)
• Dunkelfeld (Darkfield)
• Polarisation
• Differential‑Interferenzkontrast (DIC)
• Schrägbeleuchtung (verbessert Topografie‑Darstellung)
• Fluoreszenz

Schneller Überblick mit dem optionalen 0,7x Makroobjektiv
Das optionale 0,7x Makroobjektiv bietet einen schnellen Überblick über makroskopische Strukturen mit einem Sichtfeld von ca. 36 mm Durchmesser, ideal zum Orientieren und Vorfiltern vor dem Wechsel zu höher vergrößernden Objektiven.

Ergonomie und Anpassung
Visoria M passt sich den Anwenderbedürfnissen an, um eine korrekte Körperhaltung zu fördern und wiederholte Bewegungen zu reduzieren:

• Symmetrische Anordnung der Bedienelemente sowie höhenverstellbare Fokus‑ und Bühnenknöpfe ermöglichen Einhandbedienung und ausgerichtete Schulterhaltung.
• Leichter Wechsel zwischen rechts‑ und linkshändiger Bedienung für gemeinsame Arbeitsplätze.
• Ergonomische Zubehöroptionen: 15° Ergorohr, verstellbare VarioTubes (0–35°), ErgoModules zur Okularhöhenanpassung und optionaler ErgoLift zur Gesamthöhenverstellung.

Dokumentation und Bildgebung vereinfachen
Erfassen Sie Bilder über einen dedizierten Auslöser am Stativ, während Sie das Bild im Blick behalten. Gespeicherte Bilder enthalten ausgewählte Systemeinstellungen und Metadaten, und die Maßstabsleiste wird automatisch eingefügt und angepasst, um die Dokumentation zu beschleunigen.

Beispiel enthaltene Konfiguration (Bundle‑Elemente)
Visoria M Digital Materials Microscope for Inspection and Measurement of Fine Details and Surface Structures — Beispielkonfiguration mit folgenden Elementen (Artikelnummern falls verfügbar):
Visoria M, 5-fold — Menge: 1 (11561614)
Ground plate — Menge: 1 (11561609)
Focus drive 3-step for M/P — Menge: 1 (11561607)
Focus knobs for Visoria — Menge: 1 (11561608)
IL axis, 4-fold — Menge: 1 (11561600)
Lamp housing LH113 LED — Menge: 1 (11504199)
Dust cover DML/Visoria/3000 Fluo/Photo — Menge: 1 (11501074)
Ergo stage IND 76x50 with stage bracket — Menge: 1 (11888703)
Slide holder IND — Menge: 1 (11888711)
Reflector BF, fixed — Menge: 1 (11888716)
Reflector DF — Menge: 1 (11888740)
Microscope Objective N PLAN EPI 5x/0.12 BD — Menge: 1 (11566077)
Microscope Objective N PLAN EPI 10x/0.25 BD — Menge: 1 (11566083)
Microscope Objective N PLAN EPI 20x/0.40 BD — Menge: 1 (11566067)
Microscope Objective N PLAN EPI 50x/0.75 BD — Menge: 1 (11566074)
Microscope Objective N PLAN EPI 100x/0.85 BD — Menge: 1 (11566075)
Flexacam c5 (digital camera option) — Menge: 1 (12730535)
C-Mount HC 0.55x — Menge: 1 (11541544)

Technische Daten

• Modell: Visoria M
• Anwendung: Materialinspektion und Routineanalysen — Metalle, Legierungen, elektronische/mechanische Bauteile, Verbundwerkstoffe, Glas, Keramik, F&E und QA/QC Labore.
• Betriebsarten: okularefreie digitale Konfiguration und klassische optische Konfiguration.
• Unterstützte Kontrastmethoden: Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, DIC, Schrägbeleuchtung, Fluoreszenz.
• Fokus: Drei‑Gang Fokussierung (grob, mittel, fein) mit integrierter Fokusbegrenzung.
• Bühne: ergonomische XY‑Bühne zugänglich für Einhandverstellung; Höhe/Torque der Bühne einstellbar zur Reduzierung repetitiver Bewegungen.
• Makroobjektiv (optional): 0,7x Makroobjektiv bietet ~36 mm Durchmesser Übersicht.
• Beleuchtung: kodiertes Lichtmanagement wendet beim Wechsel von Vergrößerung/Kontrast automatisch optimierte Beleuchtung an.
• Software: Enersight Plattform — Schichtdickenmessung, XY Stitching (manuelle Bühne), EDOF, Quick Brightness, Shading‑Korrektur, Bildfusion zwischen Kontrastmethoden.
• Bildgebung: integrierter Aufnahmeknopf am Stativ; automatische Metadaten‑ und Maßstabsleisten‑Einbettung.
• Ergo‑Zubehör: 15° Ergorohr, VarioTubes (0–35°), ErgoModules, ErgoLift (optional).
• Digitale Kameraoptionen: Flexacam c5 und weitere Flexacam Modelle verfügbar für digitale Workflows.