Optischer Profilometer TopMap Micro.View®

Multifunktion3DTopographie

Das Micro.View® ist das Kompaktsystem der optischen Profilometer-Serie TopMap zur optischen Messung von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology kann der 100 mm große z-Verfahrweg komplett als Messbereich verwendet werden - das Ganze bei einer vertikalen Auflösung im Nanometerbereich. Das Profilometer zeichnet sich durch seinen kompakten Tischaufbau mit integrierter Elektronik aus und besticht durch seine Bedienerfreundlichkeit. Der Focus Finder ermöglicht das schnelle und einfache Messen. Highlights Kompaktsystem für Oberflächendetails 3D-Topografie, Rauheit und Texturen berührungsfrei messen 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology Exzellente laterale Auflösung Anwendungsspezifische Objektive verfügbar Oberflächenmesstechnik mit Mikroskopoptik Weißlicht erfasst feinsten Strukturdetails Ihrer Präzisionsoberflächen. Unsere Mikroskop-basierten Profilometer charakterisieren die Oberflächenbeschaffenheit und quantifizieren, wie rau oder glatt Ihre Werkstückoberflächen sind. Profitieren Sie von motorisierten Messungen, automatischer Positionierung, und dem automatischen Focus Finder, damit Sie sich auf Ihre Qualität konzentrieren können. Kompakt-Profilometer für die Rauheitsmessung Die optionale ECT Environmental Compensation Technology stellt zuverlässige, reproduzierbare Messergebnisse selbst in rauer Umgebung sicher. Micro.View® ist die kosteneffiziente Art für die Qualitätskontrolle von Präzisionsmechanik und Analyse von Oberflächendetails sowohl in der Forschung als auch im Produktionsumfeld. Bei Qualitätskontrollen geht es um Zuverlässigkeit,