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... Das bodenstehende Weißlichtinterferometer (WLI) NPFLEX-1000 bietet die genaueste und flexibelste Lösung für die Bewertung von Nano- bis Makromerkmalen auf großen Teilen in der QA/QC der Präzisionsbearbeitung. Zu den Hauptmerkmalen gehören ein offenes ...
Bruker Nano Surfaces
... Das optische Profilometer ContourX-200 bietet die perfekte Mischung aus fortschrittlicher Charakterisierung, anpassbaren Optionen und Benutzerfreundlichkeit für eine schnelle, genaue und wiederholbare berührungslose 3D-Oberflächenmessung ...
Bruker Nano Surfaces
... Das optische Profilometer ContourX-100 setzt neue Maßstäbe für die genaue und wiederholbare berührungslose Oberflächenmesstechnik zu einem klassenbesten Preis. Das kleine System bietet kompromisslose hochauflösende 2D/3D-Messfunktionen ...
Bruker Nano Surfaces
... Das optische Profilometer ContourX-500 ist das weltweit umfassendste automatisierte Tischsystem für die schnelle, berührungslose 3D-Oberflächenmesstechnik. Das lehrenfähige ContourX-500 zeichnet sich durch eine unübertroffene Auflösung ...
Bruker Nano Surfaces
... In den letzten fünf Jahrzehnten waren die Dektak-Systeme von Bruker branchenweit führend in der Tastereinsatz-Profilierungstechnologie und erzielten bahnbrechende Verbesserungen bei Auflösung, Stabilität, Geschwindigkeit und Vielseitigkeit. Heute sind ...
Bruker Nano Surfaces
... Das Dektak XTL™ Tasterprofilometer eignet sich für Proben mit einer Größe von bis zu 350 mm x 350 mm und bringt die legendäre Dektak®-Wiederholbarkeit und Reproduzierbarkeit in die großformatige Wafer- und Plattenfertigung. Das Dektak XTL verfügt über ...
Bruker Nano Surfaces
Räumliche Auflösung: 530, 460 nm
Länge: 600 mm
Breite: 550 mm
Das S wide ist ein spezielles System zur schnellen Vermessung großer Probenflächen mit bis zu 300 x 300 mm. Es integriert sämtliche Vorteile eines digitalen Mikroskops in ein hochauflösendes Messgerät. Dank Datenerfassung per einfachem Knopfdruck ist ...
Sensofar Metrology
Vergrößerung: 20, 5, 100, 50, 150 unit
Räumliche Auflösung: 630, 530, 460, 575 nm
Länge: 610 mm
... Das neue S neox übertrifft alle bisherigen optischen 3D- Profilometer in Sachen Leistung, Funktionalität, Effizienz und Design. Damit bietet Sensofar ein branchenführendes Flächenmesssystem. Schneller als jemals zuvor Alles geht ...
Sensofar Metrology
Vergrößerung: 5, 150, 20, 50, 100 unit
Räumliche Auflösung: 630, 530, 460, 575 nm
Länge: 635 mm
... Das optische 3D- Profilometer S neox Five Axis hebt die fortschrittlichen Kontroll- und Analysefunktionen des optischen 3D-Profilometers S neox durch die Kombination mit einem hoch präzisen Rotationsmodul auf eine neue Ebene. Das Gerät ...
Sensofar Metrology
Vergrößerung: 3, 10, 50, 100, 150 unit
Räumliche Auflösung: 550 nm
Länge: 365 mm
... Mikropaläontologie Optik Werkzeugtechnik Halbleitertechnik Uhrenbau 3-in1-Technologien Konfokal Konfokal- Profilometer erlauben die Vermessung unterschiedlichster Oberflächen, von glatt bis sehr rau. Die Konfokal-Technik ...
Sensofar Metrology
... Das Micro.View® ist das Kompaktsystem der optischen Profilometer-Serie TopMap zur optischen Messung von Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology kann der 100 mm große ...
Polytec
... Micro.View+® ist die neue Generation optischer 3D- Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, ...
Polytec
... Formtoleranzen wie Ebenheit, Parallelität oder Stufenhöhe für die zuverlässige Oberflächenqualitätsprüfung und iO/niO-Bewertung Formtoleranzen von Oberflächen zuverlässig messen Das TopMap Pro.Surf bestimmt Formabweichung schnell, zuverlässig und ...
Polytec
... Kombinierte 3D-Oberflächenprüfung von Formabweichung und Rauheit Optische 3D-Messtechnik prüft Formabweichung und Rauheit Das neue TopMap Pro.Surf+ bestimmt Formabweichung und Oberflächenrauheit bequem in einem – schnell, zuverlässig und präzise. ...
Polytec
... Kompakte 3D-Oberflächenmesstechnik und der Einstieg in die Weißlichtinterferometrie Einstieg in die Weißlichtinterferometrie Das TopMap Metro.Lab von Polytec ist ein hochpräzises Weißlicht-Interferometer (Coherence Scanning Interferometer) mit einem ...
Polytec
... LS-View ist ein passives, auf den Laserstrahl ausgerichtetes Bildverarbeitungssystem, das für die Beobachtung des Scanfelds vor, während und nach dem Laserprozess eingesetzt wird. Um ein klares Bild des Werkstücks zu erhalten, ist keine mechanische Tischbewegung ...
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