STEM-Mikroskop

optischzur Nanocharakterisierungfür Materialforschung

für die multimodale Charakterisierung der morphologischen, chemischen und strukturellen Eigenschaften von Funktionsmaterialien, dünnen Filmen und synthetischen Partikeln im Nanomaßstab, mit herausragender 4D-STEM-Leistung und beispielloser Benutzerfreundlichkeit. Synchronisierung von Scanning mit Diffraction Imaging, EDS-Akquisition und Beam Blanking. Integrierte 4D-STEM-Datenanalyse und -verarbeitung nahezu in Echtzeit Leistungsvorteile durch Elektronenstrahlpräzession und Nah-UHV Ein neuer Ansatz für die STEM-Benutzererfahrung Analytisches 4D-STEM Das vollständige Bild der Wechselwirkung zwischen Elektronenstrahl und Probe 4D-STEM ist die Mikroskopiemethode der Wahl für die echte multimodale Charakterisierung von Materialeigenschaften wie Morphologie, Chemie und Struktur im Nanobereich. An jedem Pixel des STEM-Datensatzes nimmt TESCAN TENSOR ein Beugungsmuster und ein EDS-Spektrum auf, schnell und perfekt synchronisiert. Zusammen ergeben die Beugungs- und Spektroskopiedaten ein vollständiges Bild der Wechselwirkung zwischen Elektronenstrahl und Probe, aus dem sich eine breite Palette von Materialeigenschaften ableiten lässt. Analyse und Verarbeitung von 4D-STEM-Daten nahezu in Echtzeit Ein wirklich einzigartiges Merkmal von TESCAN TENSOR ist Explore, die integrierte Plattform von TENSOR für die Echtzeitverarbeitung und -analyse von großen Rasterelektronenbeugungsdatensätzen. Explore macht 4D-STEM-Messungen für Materialwissenschaftler, Halbleiterforscher und Kristallographen zugänglich, ohne dass Expertenwissen über STEM-Optik oder 4D-STEM-Datenanalyse und Post-Processing erforderlich ist. Fortgeschrittene Benutzer haben die Möglichkeit, die voreingestellten optimierten optischen Eigenschaften für jede STEM- oder 4D-STEM-Messung nach ihren Wünschen anzupassen. Außerdem,