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{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9 nm
... Schottky-FE-SEMs für ultrahochauflösende Bildgebung und analytische Arbeiten Ideal für Anwender, die sowohl ultrahochauflösende Bildgebung als auch analytische Funktionen benötigen. Analytischer Arbeitsabstand von nur 6 mm. Parallele Anzeige von bis ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 läutet eine neue Ära ultrahochauflösender Rasterelektronenmikroskope mit Kaltfeldemission in der traditionsreichen EM-Produktpalette von Hitachi ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform vereint vielseitige Bildgebungsfunktionen, Automatisierung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen, darunter Großflächenbeobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen sowie die gleichzeitige ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm
... Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, die NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das neu ...
... Das Dimension Icon® von Bruker bietet Forschern in Wissenschaft und Industrie im Nanobereich ein Höchstmaß an Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit. Es baut auf der weltweit meistgenutzten AFM-Plattform für große Proben auf und ist der Höhepunkt ...
... der Säule ausgestattet, mit dem energiegefilterte Bilder und Energieverlustspektren aufgenommen werden können. Die mit dem Mikroskop aufgenommenen verlustfreien Bilder bieten einen hohen Kontrast bei reduzierter chromatischer Aberration. ...
Jeol
... für die multimodale Charakterisierung der morphologischen, chemischen und strukturellen Eigenschaften von Funktionsmaterialien, dünnen Filmen und synthetischen Partikeln im Nanomaßstab, mit herausragender 4D-STEM-Leistung und beispielloser Benutzerfreundlichkeit. Synchronisierung ...
TESCAN GmbH
Vergrößerung: 0 unit - 10 unit
Gewicht: 100 kg
Breite: 620 mm
... Insight - μ+ Medizinisches Mikroskop, mit deutschen 6 Gelenke Arm System, und ein Grad kontrollierte Okular, das ein Mikroskop ermöglicht, frei zu bewegen und helfen, den betroffenen Bereich leicht zu beobachten. Mit ...
Vergrößerung: 13, 8, 20, 5, 4 unit
... 1. Optisches System: Apochromatisches optisches System 2. Zoombereich: Getriebezoom 3. okular: 12.5x Weitwinkelokular, Diopter+6~-6D hoher Augenpunkt, geeignet für Brillenträger 4. binokulartubus: 0-180° Winkel einstellbar, f170mm 5. objektiv: Festbrennweite: ...
Vergrößerung: 1,6 unit - 19 unit
... hoher Augenpunkt 12,5X Weitwinkelokular, einstellbare Dioptrien ※Stufenloser Zoom: Der Verstärkungsfaktor beträgt: 0,4 - 2,5 ※Drei-in-Eins-Strahlenteiler: 45° Extender, Pendelsystem, Strahlenteiler Optische Integration, Teilungsverhältnis 2:8 oder 5:5 ※Effizientes ...
SOCO Precision Instrument Co., Ltd.
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