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BRUKER Rasterkraftmikroskope
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... Dimension Nexus™ bietet eine ideale Kombination aus Datenqualität, Experimentierflexibilität und Benutzerfreundlichkeit in einem System mit geringem Platzbedarf. Es beinhaltet die bahnbrechenden Innovationen des Bruker NanoScope® 6 Controllers, die PeakForce ...
Bruker Nano Surfaces
... Das Icon AFM-Raman-System vereint die sich ergänzenden Techniken der Rasterkraftmikroskopie und der Raman-Mikroskopie, um wichtige Informationen über die Topographie und die chemische Zusammensetzung einer Probe zu liefern. Wenn diese Techniken mit fortschrittlichen ...
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... Das kompakte Innova®-Atomkraftmikroskop (AFM) bietet Anwendungsflexibilität für die anspruchsvollste wissenschaftliche Forschung zu moderaten Kosten. Sein einzigartiges Closed-Loop-Scan-Linearisierungssystem sorgt für genaue Messungen und ein Rauschverhalten, ...
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... Innova-IRIS kombiniert die branchenführende AFM-Leistung mit den exklusiven TERS-Sonden von Bruker und bietet so die weltweit einzige vollständige, garantierte Lösung für die spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie (TERS). Es fügt sich nahtlos in das Renishaw ...
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... Kombination aus überragender Auflösung, Leistung und unvergleichlicher Vielseitigkeit und Produktivität. Das MultiMode 8-HR Rasterkraftmikroskop (AFM) entwickelt diese Fähigkeiten weiter und bietet erhebliche Verbesserungen bei der Bildgebungsgeschwindigkeit, ...
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... Der NanoWizard® V kombiniert hohe räumliche und zeitliche Auflösung mit einem großen Scanbereich, flexiblem Experimentdesign und hervorragender Integration mit modernen optischen Mikroskopsystemen. Seine automatisierte Einrichtung, Ausrichtung und Nachjustierung ...
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... Das NanoWizard® NanoOptics AFM ist für eine breite Palette von Anwendungen optimiert, die von der optischen Abbildung im Nanobereich durch Apertur- und Streuungs-SNOM bis hin zu Experimenten reichen, bei denen es zu Wechselwirkungen von Licht mit der ...
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... Das Dimension Icon® von Bruker bietet Forschern in Wissenschaft und Industrie im Nanobereich ein Höchstmaß an Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit. Es baut auf der weltweit meistgenutzten AFM-Plattform für große Proben auf und ist der Höhepunkt ...
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... Das Dimension FastScan® Rasterkraftmikroskop (AFM) wurde speziell für schnelles Scannen ohne Auflösungsverlust, Verlust der Kraftkontrolle, zusätzliche Komplexität oder zusätzliche Betriebskosten entwickelt. Mit FastScan erhalten Sie ...
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