HITACHI Mikroskope

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4, 0,7 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. Die automatische Achseneinstellung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht ...

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Breite: 330 mm

... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...

Räumliche Auflösung: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... Das Hitachi Ethos FIB-SEM ist ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik für die Präzisionsbearbeitung ...

Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm

... Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, die NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu ...

Räumliche Auflösung: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... FIB-SEM-Systeme sind zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse der neuesten Technologien und Hochleistungsmaterialien im Nanobereich geworden. Die ständig steigende Nachfrage nach ultradünnen TEM-Lamellen ...

Räumliche Auflösung: 0,3 nm

... Die AFM100-Serie ist Hitachis Sondenmikroskopie-Plattform der nächsten Generation. Die Systeme AFM100 Plus und AFM100, die diese Serie bilden, wurden entwickelt, um die Möglichkeiten und die Leistung der Rasterkraftmikroskopie zu erweitern ...