HITACHI SEM-Mikroskope

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,6, 0,9 nm

... Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE- SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, Automatisierung, effiziente Arbeitsabläufe für ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE- SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, erhöhte Systemstabilität, effiziente ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm

... Ein modernes FE- SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Breite: 330 mm

... Camera Navi * Die Verwendung optischer Bilder erleichtert die Navigation zum Zielbeobachtungsgebiet. Gewonnene SEM-Bilder können über ein SEM-MAP-Bild gelegt werden. Bericht-Ersteller Wählen Sie einfach Bilder und ...

Räumliche Auflösung: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... Das Hitachi Ethos FIB- SEM ist ein FE- SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik für die Präzisionsbearbeitung ...

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4, 0,7 nm

... Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE- SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität, das eine hochauflösende Bildgebung und hochwertige ...