JEOL Mikroskope

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TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
CRYO ARM™ 300

... der Säule ausgestattet, mit dem energiegefilterte Bilder und Energieverlustspektren aufgenommen werden können. Die mit dem Mikroskop aufgenommenen verlustfreien Bilder bieten einen hohen Kontrast bei reduzierter chromatischer Aberration. ...

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TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
GRAND ARM™2

Räumliche Auflösung: 0,05 nm - 0,17 nm

Bereits das JEOL 300kV-Flagschiff-TEM JEM-ARM300F „GRAND ARM“ markierte Rekorde in Auflösung und EDX-Geschwindigkeit. Mit dem Nachfolgemodell GRAND ARM™ 2 wurde die Stabilität des Systems in zahlreichen Aspekten maximiert. So ermöglicht die neueste Generation ...

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TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
JEM-ARM200F NEOARM

Räumliche Auflösung: 0,1, 0,11, 0,25, 0,07, 0,16 nm

Das JEOL "NEOARM" / JEM-ARM200F zeichnet sich durch eine kalte Feldemissionsquelle (Cold FEG) und einen Cs-Korrektor (ASCOR), der Aberrationen höherer Ordnungen kompensiert, aus. Diese Kombination aus Cold FEG und ASCOR ermöglicht gleichermaßen atomare ...

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TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
JEM-F200

Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,16, 0,23 nm

... Das JEM-F200 ist ein vielseitiges analytisches Elektronenmikroskop der neuesten Generation. Das Gerät wurde mit dem Ziel konzipiert, ein möglichst breites Anwendungsfeld abzudecken. Neben der speziell entwickelten, anwenderfreundlichen Benutzeroberfläche ...

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TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
JEM-2100Plus

Räumliche Auflösung: 0,14 nm - 0,19 nm

... leistungsfähige Elektronenoptik mit einem hochentwickelten Steuerungssystem für eine verbesserte und intuitive Handhabung vereint. Das Mikroskop eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in der Werkstoffkunde bis hin zu medizinischen ...

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TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
JEM-2200FS

Vergrößerung: 2.000 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1 nm - 0,31 nm

... bietet einen reibungslosen Betrieb für die Suche von Sichtfeldern auf atomarer Ebene. Integration in andere Instrumente Das Mikroskop kann vollständig über einen PC gesteuert werden. Das Designkonzept ermöglicht die Integration von ...

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TEM-Mikroskop
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JEM-1400Flash

Vergrößerung: 10 unit - 1.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14 nm

Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, eine Vielzahl ...

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Transmissionselektronmikroskop
Transmissionselektronmikroskop
JEM-120i

Vergrößerung: 50 unit - 1.200.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,2, 0,14 nm
Breite: 840 mm

... Transmissions-Elektronenmikroskope (TEM) mit einer Beschleunigungsspannung von 120 kV werden häufig in Bereichen mit weichen Materialien wie Biologie und Polymeren eingesetzt. Wir haben das JEM-120i mit dem Konzept "Kompakt", "Einfach zu bedienen" und ...

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
JSM-IT810

... Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung treffen beim FE-SEM der Serie JSM-IT810 auf Automatisierung. Die kodierungsfreie Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analyse sorgt für einen schlanken und effizienten Arbeitsablauf. Neue Funktionen sorgen ...

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
JSM-IT800

Räumliche Auflösung: 0,5 nm - 3 nm

... einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des ...

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