Topographie-Mikroskope

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optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
Visoria M

... Übersicht
Das Materialmikroskop Visoria M ist für die Routineinspektion und Materialanalyse in den Bereichen Metalle, Elektronik, Polymere sowie für F&E- und QA/QC‑Labore konzipiert. Es kombiniert ergonomische Bedienelemente, kodierte Lichtsteuerung ...

SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
TM4000PlusIII

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Länge: 617 mm

... Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen ...

SEM-Mikroskop
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JSM-IT810

... Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung treffen beim FE-SEM der Serie JSM-IT810 auf Automatisierung. Die kodierungsfreie Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analyse sorgt für einen schlanken und effizienten Arbeitsablauf. Neue Funktionen sorgen ...

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