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Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9 nm
... Schottky- FE-SEMs für ultrahochauflösende Bildgebung und analytische Arbeiten Ideal für Anwender, die sowohl ultrahochauflösende Bildgebung als auch analytische Funktionen benötigen. Analytischer Arbeitsabstand von nur 6 mm. Parallele ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm
... Ein modernes FE- SEM erfordert nicht nur hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen, darunter Großflächenbeobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm
... Leistungsstarke, vielseitige SEMs, die für hohe Leistung, die Handhabung großer Proben und benutzerfreundliche Automatisierungsbildgebungsanforderungen in Wissenschaft und Industrie entwickelt wurden. Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... Elementanalyse sowohl im REM- als auch im STEM-Modus nahe an der Probe angebracht werden. Produktmerkmale: - SEM-STEM-Kombination mit ExB-gefiltertem SEM-Signal und streuwinkelabhängiger Transmissionssignaldetektion - ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,6, 0,9 nm
... ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE- SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, Automatisierung, ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE- SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, erhöhte Systemstabilität, effiziente ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm
... Ein modernes FE- SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ...
Hitachi High-Technologies
... Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung treffen beim FE- SEM der Serie JSM-IT810 auf Automatisierung. Die kodierungsfreie Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analyse sorgt für einen schlanken und effizienten Arbeitsablauf. Neue ...
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