Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop SU8700

Laborfür Forschungszweckebodenstehend

Schottky-FE-SEMs für ultrahochauflösende Bildgebung und analytische Arbeiten Ideal für Anwender, die sowohl ultrahochauflösende Bildgebung als auch analytische Funktionen benötigen. Analytischer Arbeitsabstand von nur 6 mm. Parallele Anzeige von bis zu sechs Bildkanälen über eine Benutzeroberfläche mit zwei Monitoren. Variable Druckmöglichkeiten ohne zusätzliche Blenden ermöglichen die Bildgebung und Analyse an nichtleitenden Proben. Fortschrittliche Automatisierung für optimierte Arbeitsabläufe. Schottky-Feldemissionsquelle. Strahlverstärkung über den gesamten Bereich und ein elektrostatisch-magnetisches Hybridobjektiv für eine Auflösung im Subnanometerbereich ohne magnetische Wechselwirkung mit der Probe. Größere Kammer. Bietet Platz für Proben mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm und einer Höhe von bis zu 80 mm. 18 Kammerzugangsanschlüsse, darunter zwei Verkabelungsanschlüsse in der Tischklappe, für optionales Zubehör. Optimiert für die schnelle (durchsatzstarke) Untersuchung von Proben mit einem Durchmesser von bis zu 150 mm. Probenbefüllung über eine standardmäßige 6-Zoll-Probenwechselkammer, optional mit einem Inertgas-Transfermechanismus. Übersicht Die FE-SEMs SU7000 und SU8700 von Hitachi bieten eine außergewöhnliche Balance zwischen ultrahochauflösender Bildgebung und analytischen Fähigkeiten. Diese beiden Geräte wurden für beide Anwendungsbereiche konzipiert und verfügen über dieselbe leistungsstarke Elektronenoptik sowie dieselben analytischen Funktionen, unterscheiden sich jedoch in der Größe der Kammer und des Tisches. Die Modelle SU7000 und SU8700 sind für ein breites Anwendungsspektrum ausgelegt. Ihre hochhelle Schottky-Feldemissions-Elektronenquelle, die Fähigkeit zur Single-Scan-Multisignal-Bildgebung sowie die optionale Workflow-Automatisierung (mithilfe der EM Flow Creator-Software) gewährleisten konsistente Ergebnisse und überragende Produktivität.