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Räumliche Auflösung: 1,6, 2,1, 4 nm
... entwickelte FIB-SEM-System NX9000 von Hitachi verfügt über einen optimierten Aufbau für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse sowie bei TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das ...
Räumliche Auflösung: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 ist ein für Halbleiteranwendungen optimiertes FIB-SEM (Defektanalyse mit KLARF-Koordinatenimport, TEM-Lamellenextraktion, Bauelementeentwicklung). Mit 205 x 205 mm X,Y-Verfahrweg erlaubt der Probentisch sogar die vollflächige Bearbeitung ...
Räumliche Auflösung: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Das Hitachi Ethos FIB-SEM ist ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik für die Präzisionsbearbeitung ...
... fokussiertem Plasma-Ionenstrahl ( FIB-SEM) für die Analyse besonders großer Volumina und Kryo-Anwendungen mit hohem Durchsatz. Ausgestattet mit der iFIB+-Säule unterstützt das TESCAN AMBER X Kryo- FIB-Anwendungen, die bisher ...
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