Dickenmessgerät MPLS-DM series
für medizinische AnwendungkontinuierlichInline

Dickenmessgerät - MPLS-DM series - MARPOSS - für medizinische Anwendung / kontinuierlich / Inline
Dickenmessgerät - MPLS-DM series - MARPOSS - für medizinische Anwendung / kontinuierlich / Inline
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Eigenschaften

Getesteter Parameter
Dicken
Anwendung
für medizinische Anwendung
Verwendungsmodus
kontinuierlich
Konfigurierung
Inline
Weitere Eigenschaften
digital
Gewicht

14,5 kg
(32 lb)

Breite

18,4 cm
(7,2 in)

Höhe

Min: 49,7 cm
(19,6 in)

49,7 cm
(19,6 in)

Max: 49,7 cm
(19,6 in)

Beschreibung

Produktübersicht
Die ChromaLine-Sensorfamilie von STIL nutzt chromatische Konfokalmessung für berührungslose Linienmessungen und Inline-Prüfung mit hoher Geschwindigkeit. Die MPLS-DM-Version bietet 180 ausgerichtete Messpunkte über Linienlängen von 1,34 bis 12,85 mm und ist für den kontinuierlichen Industrieeinsatz mit geringem Wartungsaufwand ausgelegt.

Beschreibung
Die MPLS-DM liefert hochauflösende Distanz- und Dickenmessungen mit Messfrequenzen von 200 Hz bis 2 kHz im Standardbetrieb und bis zu 6 kHz bei reduziertem Messbereich. Der Sensor extrahiert Entfernungen anhand von Peaks (First/Last und Zwischenpeaks) und berechnet Dicken aus mehreren Peaks. Der optische Kopf besteht ausschließlich aus passiven Komponenten für industrielle Zuverlässigkeit.

Vorteile
  • Vielseitige berührungslose Messung für reflektierende Materialien (Metall, Glas, Kunststoffe, Lackschichten, Flüssigkeiten)
  • Industriegeeigneter optischer Kopf aus passiven Komponenten für lange Lebensdauer
  • Hoher Datendurchsatz: bis zu 360.000 Messpunkte/Sekunde bei 2 kHz; >1.000.000 Punkte/Sekunde bei 6 kHz in spezialisierten Anwendungen
  • Distanz- und Mehrfach-Peak-Dickenmessung
  • Hohe axiale Auflösung und niedriges Rauschen für feine Oberflächen- und Dickenkontrolle
  • SDK und Protokollbefehle für einfache Integration
  • Synchronisierte Messungen mit Encoder-Eingang für dynamische Prozesse
  • Gigabit-Ethernet für schnelle Datenübertragung

Anwendungen
  • Automotive-Glasprüfung
  • Glasbehälter- und Verpackungsindustrie
  • Elektrofahrzeugindustrie (Batteriemessungen)
  • Roll-to-Roll- und Folienmessungen (transparente und opake Folien, flexible Elektronik)
  • Elektronikindustrie (Leiterplatten)
  • Halbleiterindustrie (Siliziumwafer)
  • Consumer-Electronics-Komponenten
  • Medizinische Bauteilprüfung
  • Micromechanics und Präzisionstechnik
  • Luft- und Raumfahrt (Oberflächen- und Baugruppenprüfung)
  • Uhrmacherei und Mikroassembly
  • Roboterintegration für automatisierte Inspektion

Versionen
ChromaLine-Sensoren sind standardmäßig in fünf MPLS-DM-Versionen verfügbar: NANOVIEW, MicroView, WireView, DeepView mk2 und SuperView, jeweils optimiert für Linienlänge und Messbereich.

Technische Daten (Controller / allgemein)
Controller: MPLS-DM
Technologie: Chromatic Confocal
Lichtquelle: Weiße LED
Anzahl Punkte: 180
Messfrequenz: 200 Hz – 2000 Hz (bis 6000 Hz mit reduziertem Messbereich)
Distanzmessung: Höchster / Erster / Zweiter / Dritter / Vierter / Letzter Peak
Dickenmessung: 2 von 5 Peaks
Digitale Ausgabe: Gigabit Ethernet
Synchronisation: Trigger Ein/Aus
Weitere I/O: Encoder-Eingang (1)
Faserbündel-Länge: 5 m
Betriebstemperatur: 5 °C – 50 °C
Lagerungstemperatur: -30 °C – 70 °C
Relative Luftfeuchte: 5% – 80% RH ohne Kondensation
Schutzart: IP20
Konformität: EN 61010-1; EN 61326-1
Stromversorgung: 100–240 Vac
Leistungsaufnahme (max/typ): 120 W / 70 W
Abmessungen (mm): 448.9 x 184 x 497
Gewicht: 14.5 kg

Technische Daten (Sensorausführungen - Vergleichswerte)
Modelle / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — Bestellcodes: OPSTM705002 (NANOVIEW), OPSTM710002 (WIREVIEW), OPSTM706002 (MICROVIEW), OPST0707002 (DEEPVIEW mk2), OPSTM711001 (SUPERVIEW).
Linienlänge (mm): 1.34 / 1.51 / 1.8 / 4.2 / 12.85
Messbereich @2 kHz (mm): 0.12 / 0.9 / 0.5 / 2.6 / 2
Arbeitsabstand (mm): 7.4 / 7.8 / 10.1 / 19.5 / 11.3
Numerische Apertur: 0.75 / 0.75 / 0.5 / 0.37 / 0.33
Max. Probenneigung (°): ±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
Pitch (µm): 7.5 / 8.5 / 10.1 / 23.5 / 71.8
Max. Linearitätsfehler (µm): ±0.04 / ±0.1 / ±0.08 / ±0.12 / ±0.12
Statisches Rauschen (nm): 25 / 150 / 100 / 300 / 300
Axiale Auflösung (µm): 0.15 / 0.9 / 0.6 / 1.8 / 1.8
Spotgröße (µm): 2.9 / 3.2 / 3.8 / 8.8 / 27.2
Homogenität (nm): 30 / 200 / 125 / 400 / 400
Mindest messbare Dicke (µm): 18 / 110 / 50 / 250 / 300
Länge / Durchmesser / Gewicht (mm / mm / g): NANOVIEW 436.1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482.5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427.3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428.3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397.8 / 60 / 2550
Messbereich @4 kHz (mm): 0.055* / 0.45* / 0.235* / 1.15* / 0.9*
Messbereich @6 kHz (mm): 0.030* / 0.24* / 0.12* / 0.65* / 0.5*
* Vorläufiger Wert

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