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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... Elementanalyse sowohl im REM- als auch im STEM-Modus nahe an der Probe angebracht werden. Produktmerkmale: - SEM-STEM-Kombination mit ExB-gefiltertem SEM-Signal und streuwinkelabhängiger Transmissionssignaldetektion - ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 6, 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm
... FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Länge: 617 mm
... motorisierten X,Y-Probentisch erfolgt über eine automatisch generierte, zoombare Farbfotoübersicht. Diese kann vor Ort durch SEM-Fotoschnappschüsse ergänzt werden. Produktmerkmale: - EDX mit 30mm2 oder 60mm2 Sensorgröße ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Räumliche Auflösung: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 ist ein für Halbleiteranwendungen optimiertes FIB-SEM (Defektanalyse mit KLARF-Koordinatenimport, TEM-Lamellenextraktion, Bauelementeentwicklung). Mit 205 x 205 mm X,Y-Verfahrweg erlaubt der Probentisch sogar die ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4, 0,7 nm
... Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität, das eine hochauflösende Bildgebung ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, Automatisierung, effiziente Arbeitsabläufe ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, erhöhte Systemstabilität, ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Breite: 330 mm
... Camera Navi * Die Verwendung optischer Bilder erleichtert die Navigation zum Zielbeobachtungsgebiet. Gewonnene SEM-Bilder können über ein SEM-MAP-Bild gelegt werden. Bericht-Ersteller Wählen Sie einfach ...
Hitachi High-Technologies
Räumliche Auflösung: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Das Hitachi Ethos FIB-SEM ist ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik ...
Hitachi High-Technologies
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