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Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm
... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. Darüber hinaus kann ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 ist das Nachfolgemodell der bewährten Regulus-Feldemissions-SEM-Familie und erfüllt höchste Anforderungen für abbildungsorientierte Anwendungen. Der Kaltfeldstrahler mit seiner nahezu monochromatischen Emission in Kombination mit einer magnetischen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm
... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, Erwärmung/Kühlung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen können. Es stehen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 6, 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm
... FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei der Abbildungsleistung ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Länge: 617 mm
... Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe und Kontrast zwischen ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Räumliche Auflösung: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... NX2000 ist ein für Halbleiteranwendungen optimiertes FIB-SEM (Defektanalyse mit KLARF-Koordinatenimport, TEM-Lamellenextraktion, Bauelementeentwicklung). Mit 205 x 205 mm X,Y-Verfahrweg erlaubt der Probentisch sogar die vollflächige Bearbeitung von 200 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und gleichzeitige Erfassung ...
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