HITACHI Mikroskope für Forschungszwecke

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9 nm

... Schottky-FE-SEMs für ultrahochauflösende Bildgebung und analytische Arbeiten Ideal für Anwender, die sowohl ultrahochauflösende Bildgebung als auch analytische Funktionen benötigen. Analytischer Arbeitsabstand von nur 6 mm. Parallele Anzeige von bis ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... Das SU8600 läutet eine neue Ära ultrahochauflösender Rasterelektronenmikroskope mit Kaltfeldemission in der traditionsreichen EM-Produktpalette von Hitachi ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform vereint vielseitige Bildgebungsfunktionen, Automatisierung, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen, darunter Großflächenbeobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen sowie die gleichzeitige ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistungsstarke, vielseitige VP-SEMs mit einer Auswahl an Elektronenquellen und Probenkammergrößen. Entwickelt für hohe Leistung, die Handhabung großer Proben und benutzerfreundliche automatisierte Bildgebungsanforderungen in Wissenschaft und Industrie. Einfache ...

Vergrößerung: 6, 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm

... Das äußerst kompakte VP-SEM, wahlweise als Standgerät oder Tischgerät erhältlich. Kompaktes und flexibles Design Hochauflösende Bildgebung Anpassbare Vakuummodi 5-Achsen-Probenhalter Automatisierte, benutzerfreundliche Bedienung Das FlexSEM II VP-SEM ...

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Länge: 617 mm

... Qualitätskontrolle nach konsistenten Ergebnissen streben – das TM4000PlusIII ist genau auf Ihre Anforderungen zugeschnitten. Dieses Mikroskop vereint die Leistungsfähigkeit der Rasterelektronenmikroskopie in einem zugänglichen Tischgerät. ...

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Eine räumliche Auflösung von 0,078 nm im STEM wird in Verbindung mit einer hohen Neigbarkeit der Probe und einem bzw. mehreren EDX-Detektoren mit großem Raumwinkel erreicht – und das alles in einer einzigen Objektivkonfiguration. Das HF5000 baut auf ...

Vergrößerung: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Die HT7800-Serie ist ein 120-kV-Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das eine hochwertige und reproduzierbare Datenerfassung mit einer verbesserten Effizienz bei der Beobachtung verbindet. Durch die Automatisierung routinemäßiger Ausrichtungs- und ...

Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm

... Leistungsstarke, vielseitige SEMs, die für hohe Leistung, die Handhabung großer Proben und benutzerfreundliche Automatisierungsbildgebungsanforderungen in Wissenschaft und Industrie entwickelt wurden. Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE ...

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des SU9000 II, die ...