STEM-Mikroskop HF5000

TEMLaborfür Materialforschung

Eine räumliche Auflösung von 0,078 nm im STEM wird in Verbindung mit einer hohen Neigbarkeit der Probe und einem bzw. mehreren EDX-Detektoren mit großem Raumwinkel erreicht – und das alles in einer einzigen Objektivkonfiguration. Das HF5000 baut auf den Funktionen des dedizierten STEM-Systems Hitachi HD-2700 auf, darunter Hitachis eigener vollautomatischer Aberrationskorrektor, symmetrische Dual-SDD-EDX-Detektoren und Cs-korrigierte SE-Bildgebung. Zudem vereint es die fortschrittlichen TEM/STEM-Technologien, die in der HF-Serie entwickelt wurden. Die Integration dieser gesammelten Technologien in eine neue 200-kV-TEM/STEM-Plattform führt zu einem Gerät mit einer optimalen Kombination aus Sub-Å-Abbildung und -Analyse sowie der Flexibilität und den einzigartigen Fähigkeiten, um auch die anspruchsvollsten Forschungsaufgaben zu bewältigen. Merkmale Vollautomatischer, sondenbildender Sphärischer-Aberrationskorrektor von Hitachi Hochhelle und hochstabile kalte FE-Elektronenkanone (Cold FEG) Ultrastabile Säule und Stromversorgungen für verbesserte Geräteleistung Simultane Cs-korrigierte SEM- und STEM-Bildgebung mit atomarer Auflösung Neuer, hochstabiler Probenhalter mit seitlichem Zugang und Probenhalterungen Symmetrisch gegenüberliegende doppelte 100-mm²-EDX*-Detektoren: „Symmetrical Dual SDD*“ Neu gestaltetes Gehäuse für optimale Leistung in realen Laborumgebungen Eine breite Palette fortschrittlicher Probenhalter von Hitachi* Hochhelle Cold-FEG-Elektronenquelle × hohe Stabilität × automatischer Aberrationskorrektor von Hitachi Die neue, hochstabile Cold-FEG-Elektronenquelle basiert auf einer grundlegend überarbeiteten Version der seit langem bewährten Cold-FEG-Technologie von Hitachi. Die Gesamtstabilität des Systems wurde ebenfalls optimiert, um eine Abbildung im Sub-Å-Bereich zu erreichen. Die Säule, die Stromversorgungen