HITACHI Labormikroskope

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9 nm

... Schottky-FE-SEMs für ultrahochauflösende Bildgebung und analytische Arbeiten Ideal für Anwender, die sowohl ultrahochauflösende Bildgebung als auch analytische Funktionen benötigen. Analytischer Arbeitsabstand von nur 6 mm. Parallele Anzeige von bis ...

Vergrößerung: 6, 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm

... Das äußerst kompakte VP-SEM, wahlweise als Standgerät oder Tischgerät erhältlich. Kompaktes und flexibles Design Hochauflösende Bildgebung Anpassbare Vakuummodi 5-Achsen-Probenhalter Automatisierte, benutzerfreundliche Bedienung Das FlexSEM II VP-SEM ...

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Länge: 617 mm

... Leistungsstarkes Tisch-Rasterelektronenmikroskop für flexible Bildgebungsanforderungen in Wissenschaft und Industrie. Automatisierung für konsistente und zuverlässige Bildgebung Optionale Elementanalyse Ideal für leitfähige und nichtleitfähige Proben Hohe ...

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Eine räumliche Auflösung von 0,078 nm im STEM wird in Verbindung mit einer hohen Neigbarkeit der Probe und einem bzw. mehreren EDX-Detektoren mit großem Raumwinkel erreicht – und das alles in einer einzigen Objektivkonfiguration. Das HF5000 baut auf ...

Vergrößerung: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Die HT7800-Serie ist ein 120-kV-Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das eine hochwertige und reproduzierbare Datenerfassung mit einer verbesserten Effizienz bei der Beobachtung verbindet. Durch die Automatisierung routinemäßiger Ausrichtungs- und ...

Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm

... Leistungsstarke, vielseitige SEMs, die für hohe Leistung, die Handhabung großer Proben und benutzerfreundliche Automatisierungsbildgebungsanforderungen in Wissenschaft und Industrie entwickelt wurden. Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE ...

Räumliche Auflösung: 60, 4 nm

... Das Hitachi Ethos FIB-SEM vereint ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik für die Präzisionsbearbeitung im Nanobereich. Merkmale Wichtigste ...

Räumliche Auflösung: 1,6, 2,1, 4 nm

... Das neu entwickelte FIB-SEM-System NX9000 von Hitachi verfügt über einen optimierten Aufbau für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse sowie bei TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das FIB-SEM-System ...

Räumliche Auflösung: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 ist ein für Halbleiteranwendungen optimiertes FIB-SEM (Defektanalyse mit KLARF-Koordinatenimport, TEM-Lamellenextraktion, Bauelementeentwicklung). Mit 205 x 205 mm X,Y-Verfahrweg erlaubt der Probentisch sogar die vollflächige Bearbeitung von 200 ...