HITACHI Labormikroskope

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm

... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. ...

Vergrößerung: 6, 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm

... FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei ...

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Länge: 617 mm

... Das TM4000 III wurde als logische Erweiterung der optischen Stereomikroskopie entwickelt und ist ein Einstiegsgerät für die Rasterelektronenmikroskopie. Es ermöglicht Ihnen, Proben in kürzester Zeit mit guter Auflösung, Tiefenschärfe ...

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem SEM. Dies ist ...

Vergrößerung: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Die HT7800-Familie unterstützt eine Vielzahl von Anwendungen, von Biowissenschaften bis hin zu Materialwissenschaften. Es ist in drei verschiedenen Polschuh-Varianten erhältlich, die alle auf unserer patentierten Objektivlinse basieren ...

Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm

Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE und SU3900SE bieten Ihnen eine Bildgebungs- und Analyselösung für ein breites Spektrum von Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, einfache Probennavigation und fortschrittliche ...

Vergrößerung: 0 unit
Räumliche Auflösung: 4, 60 nm

... Die NX5000 "ETHOS" FIB-SEM-Plattform zielt auf fortschrittliche positionsgenaue Anwendungen in den Bereichen der automatisierten Herstellung von ultrafeinen TEM-Lamellen für aberrationskorrigierte TEM/STEM, hochauflösende Multi-Signal-SEM-Untersuchungen ...

Räumliche Auflösung: 1,6, 2,1, 4 nm

... In diesem einzigartigen System stehen die Ga-FIB- und FE-SEM-Säulen im rechten Winkel zueinander. Diese Konfiguration ist ideal für Anwendungen, bei denen große Volumina (biologisches Gewebe, Materialien mit großen Kornstrukturen, Halbleiterbauteile ...

Räumliche Auflösung: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... NX2000 ist ein für Halbleiteranwendungen optimiertes FIB-SEM (Defektanalyse mit KLARF-Koordinatenimport, TEM-Lamellenextraktion, Bauelementeentwicklung). Mit 205 x 205 mm X,Y-Verfahrweg erlaubt der Probentisch sogar die vollflächige Bearbeitung ...